| 摘要 | 第5-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 第1章 绪论 | 第14-30页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第14-16页 |
| 1.1.1 课题研究的背景 | 第14-15页 |
| 1.1.2 课题研究的意义 | 第15-16页 |
| 1.2 金属板表面缺陷检测系统的国内外研究现状 | 第16-21页 |
| 1.2.1 冷轧板表面缺陷的检测系统 | 第17-19页 |
| 1.2.2 热轧板表面缺陷的检测系统 | 第19-20页 |
| 1.2.3 铸坯板表面缺陷的检测系统 | 第20-21页 |
| 1.3 表面缺陷图像检测与识别方法的国内外研究现状 | 第21-26页 |
| 1.3.1 缺陷图像预处理与缺陷检测方法 | 第21-23页 |
| 1.3.2 缺陷图像分割方法 | 第23-24页 |
| 1.3.3 缺陷特征提取与分类识别方法 | 第24-26页 |
| 1.4 目前存在的关键技术问题 | 第26-28页 |
| 1.5 课题研究的主要内容 | 第28-30页 |
| 第2章 基于显著活动轮廓模型的表面微小缺陷检测方法 | 第30-48页 |
| 2.1 引言 | 第30页 |
| 2.2 表面微小缺陷图像的获取与分析 | 第30-33页 |
| 2.3 基于显著活动轮廓模型的微小缺陷检测方法 | 第33-38页 |
| 2.3.1 显著图像提取 | 第33-35页 |
| 2.3.2 显著活动轮廓模型 | 第35-38页 |
| 2.4 实验结果与分析 | 第38-47页 |
| 2.4.1 实验执行细节 | 第38页 |
| 2.4.2 微小点状缺陷的结果与分析 | 第38-42页 |
| 2.4.3 凹痕缺陷的结果与分析 | 第42-47页 |
| 2.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第3章 油污干扰下的硅钢板表面缺陷检测方法 | 第48-66页 |
| 3.1 引言 | 第48-49页 |
| 3.2 油污干扰下的表面缺陷图像分析 | 第49-50页 |
| 3.3 基于显著线扫描形态学的缺陷检测方法 | 第50-59页 |
| 3.3.1 显著图像提取 | 第51-52页 |
| 3.3.2 图像滤波与二值化 | 第52-55页 |
| 3.3.3 线扫描填充 | 第55-56页 |
| 3.3.4 形态学边缘处理 | 第56-59页 |
| 3.4 实验结果与分析 | 第59-65页 |
| 3.4.1 实验执行细节 | 第59页 |
| 3.4.2 擦裂缺陷的结果与分析 | 第59-60页 |
| 3.4.3 划伤缺陷的结果与分析 | 第60-62页 |
| 3.4.4 小缺陷的结果与分析 | 第62-65页 |
| 3.5 本章小结 | 第65-66页 |
| 第4章 基于散射卷积网络的缺陷特征提取方法 | 第66-76页 |
| 4.1 引言 | 第66页 |
| 4.2 散射变换 | 第66-68页 |
| 4.3 散射卷积网络 | 第68-71页 |
| 4.4 NEU-Silicon图像数据集的创建与实验分析 | 第71-73页 |
| 4.4.1 NEU-Silicon图像数据集的创建 | 第71-72页 |
| 4.4.2 散射卷积网络在NEU-Silicon上的实验结果与分析 | 第72-73页 |
| 4.5 NEU-Hot图像数据集的创建与实验分析 | 第73-75页 |
| 4.5.1 NEU-Hot图像数据集的创建 | 第73页 |
| 4.5.2 散射卷积网络在NEU-Hot上的实验结果与分析 | 第73-75页 |
| 4.6 本章小结 | 第75-76页 |
| 第5章 邻域评估下的局部二值模式识别方法 | 第76-107页 |
| 5.1 引言 | 第76-77页 |
| 5.2 局部二值模式及其扩展模式 | 第77-81页 |
| 5.2.1 局部二值模式(Local Binary Pattern) | 第77-79页 |
| 5.2.2 完整局部二值模式(Completed Local Binary Pattern) | 第79-80页 |
| 5.2.3 局部三值模式(Local Ternary Pattern) | 第80-81页 |
| 5.3 邻域评估下的局部二值模式及其扩展模式 | 第81-87页 |
| 5.3.1 邻域评估下的局部二值模式 | 第81-86页 |
| 5.3.2 邻域评估下的完整局部二值模式 | 第86-87页 |
| 5.3.3 邻域评估下的局部三值模式 | 第87页 |
| 5.4 纹理分类实验结果与分析 | 第87-102页 |
| 5.4.1 实验执行细节 | 第88-90页 |
| 5.4.2 Outex和CUReT数据实验结果与分析 | 第90-95页 |
| 5.4.3 UIUC和UMD数据实验结果与分析 | 第95-100页 |
| 5.4.4 ALOT数据实验结果与分析 | 第100-102页 |
| 5.5 NEU-Silicon图像数据集上实验结果与分析 | 第102-103页 |
| 5.6 NEU-Hot图像数据集上实验结果与分析 | 第103-105页 |
| 5.7 本章小结 | 第105-107页 |
| 第6章 结论 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-120页 |
| 致谢 | 第120-121页 |
| 攻读学位期间主要科研成果及获奖情况 | 第121-123页 |
| 作者简介 | 第123页 |
