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介质阻挡放电—蒸气发生—原子荧光光谱法测定痕量汞的研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
目录第7-9页
第1章 绪论第9-25页
    1.1 汞及其危害第9-10页
    1.2 等离子体第10-18页
        1.2.1 等离子体定义及产生第10-11页
        1.2.2 等离子体的分类第11-12页
        1.2.3 低温等离子体第12-13页
        1.2.4 介质阻挡放电简介第13-18页
    1.3 蒸气发生进样技术第18-20页
        1.3.1 冷蒸气发生第18-19页
        1.3.2 氢化物发生第19-20页
    1.4 光谱法测定汞的研究进展第20-23页
        1.4.1 分光光度法第20-21页
        1.4.2 原子光谱法第21-23页
        1.4.3 质谱法第23页
    1.5 选题思路及研究内容第23-25页
第2章 介质阻挡放电-蒸气发生-原子荧光光谱法测定痕量汞的研究第25-45页
    2.1 引言第25页
    2.2 实验部分第25-29页
        2.2.1 仪器与试剂第25-27页
        2.2.2 分析系统第27页
        2.2.3 实验操作第27-29页
    2.3 结果与讨论第29-43页
        2.3.1 DBD条件第30-35页
        2.3.2 仪器条件第35-38页
        2.3.3 试剂条件第38-40页
        2.3.4 共存离子的影响第40-41页
        2.3.5 分析性能第41-43页
    2.4 样品的测定和方法的确认第43-44页
        2.4.1 标准物质的测定第43页
        2.4.2 实际水样的测定第43-44页
    2.5 本章小结第44-45页
第3章 结论第45-47页
参考文献第47-57页
致谢第57-59页
攻读硕士学位期间发表论文第59-61页
作者从事科学研究和学习经历的简历第61页

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