面源黑体发射率传递系统研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第10页 |
| 1.2 黑体空腔理论综述 | 第10-12页 |
| 1.3 黑体辐射校准技术的发展现状 | 第12-13页 |
| 1.4 面源黑体辐射校准技术 | 第13-15页 |
| 1.5 主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 面源黑体发射率的量值传递模型 | 第17-24页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 黑体辐射理论 | 第17页 |
| 2.3 面源黑体发射率的量值传递模型 | 第17-21页 |
| 2.3.1 黑体发射率 | 第18页 |
| 2.3.2 发射率量值传递模型的建立 | 第18-21页 |
| 2.4 传递不确定度理论分析 | 第21-23页 |
| 2.4.1 不确定度评定方法 | 第21-22页 |
| 2.4.2 发射率的传递不确定度评定 | 第22-23页 |
| 2.5 本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 系统总体方案 | 第24-38页 |
| 3.1 引言 | 第24页 |
| 3.2 技术指标要求 | 第24-25页 |
| 3.3 总体方案设计 | 第25-26页 |
| 3.4 腔式黑体温控系统 | 第26-30页 |
| 3.4.1 加热制冷装置 | 第27-28页 |
| 3.4.2 PID 调节器 | 第28-29页 |
| 3.4.3 铂电阻数据采集卡 | 第29-30页 |
| 3.5 面源黑体温控系统 | 第30-32页 |
| 3.5.1 加热制冷设备 | 第31页 |
| 3.5.2 PID 恒温控制仪表 | 第31页 |
| 3.5.3 数据采集装置 | 第31-32页 |
| 3.6 能量测试比对系统 | 第32-37页 |
| 3.6.1 光学系统的设计 | 第32-33页 |
| 3.6.2 调制盘的设计 | 第33-34页 |
| 3.6.3 红外探测器的选取 | 第34-35页 |
| 3.6.4 数字式锁相放大器 | 第35-37页 |
| 3.7 本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 系统软件设计 | 第38-48页 |
| 4.1 引言 | 第38页 |
| 4.2 腔式黑体温度特性测试软件设计 | 第38-41页 |
| 4.2.1 腔式黑体温度特性测试流程 | 第38-40页 |
| 4.2.2 腔式黑体温度特性测试界面 | 第40-41页 |
| 4.3 面源黑体温度特性测试软件设计 | 第41-44页 |
| 4.3.1 面源黑体温度特性测试流程 | 第41-43页 |
| 4.3.2 面源黑体温度特性测试界面 | 第43-44页 |
| 4.4 能量测试比对系统软件设计 | 第44-47页 |
| 4.4.1 能量测试比对系统测试程序 | 第44-45页 |
| 4.4.2 锁相放大器模块子程序 | 第45-47页 |
| 4.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 实验及结果分析 | 第48-59页 |
| 5.1 引言 | 第48页 |
| 5.2 腔式黑体温度特性实验 | 第48-50页 |
| 5.2.1 腔式黑体温度特性测试分析 | 第48-49页 |
| 5.2.2 腔式黑体温控系统重复性测试分析 | 第49-50页 |
| 5.3 面源黑体温控系统实验 | 第50-53页 |
| 5.3.1 面源黑体温度特性测试分析 | 第50-51页 |
| 5.3.2 面源黑体温度均匀性测试分析 | 第51-53页 |
| 5.3.3 面源黑体温控系统重复性测试分析 | 第53页 |
| 5.4 能量测试比对系统实验 | 第53-58页 |
| 5.4.1 能量测试比对系统重复性实验 | 第53-54页 |
| 5.4.2 能量测试比对系统稳定性实验 | 第54-55页 |
| 5.4.3 发射率量值传递测试 | 第55-58页 |
| 5.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
