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多级闪存的数据表示方案及差错控制技术研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
缩略语对照表第10-13页
第一章 绪论第13-19页
    1.1 课题背景及面临的问题第13-14页
    1.2 国内外研究现状第14-17页
        1.2.1 闪存单元的研究现状第14-15页
        1.2.2 差错控制技术的相关研究第15-16页
        1.2.3 数据表示的相关研究第16-17页
    1.3 研究意义与应用前景第17-18页
    1.4 本文主要研究工作和内容安排第18-19页
第二章 多级闪存特性与纠错技术第19-29页
    2.1 闪存基础第19-22页
        2.1.1 闪存的基本结构第19页
        2.1.2 单级与多级闪存第19-21页
        2.1.3 NOR型与NAND型闪存第21-22页
    2.2 NAND型多级闪存的操作模型第22-23页
    2.3 NAND型多级闪存的错误类型第23-25页
    2.4 NAND型闪存的主要纠错技术第25-26页
        2.4.1 纠错技术分类第25-26页
        2.4.2 BCH纠错码第26页
    2.5 本章小结第26-29页
第三章 基于多级闪存的双向有限大小错误纠错算法第29-37页
    3.1 NAND型多级闪存纠错基础第29-30页
    3.2 双向有限大小错误信道第30-31页
    3.3 双向有限大小纠错码第31-35页
        3.3.1 编码第31-32页
        3.3.2 译码第32-35页
    3.4 仿真结果及分析第35-36页
    3.5 本章小结第36-37页
第四章 基于多级闪存的数据表示方案第37-57页
    4.1 多级闪存的传统数据表示方案第37-40页
        4.1.1 闪存的重写第37-38页
        4.1.2 传统表示方案第38-40页
    4.2 等级调制方案第40-43页
        4.2.1 方案的提出第40-41页
        4.2.2 方案的内容第41-43页
    4.3 等级调制码的构造第43-53页
        4.3.1 通过格雷码构造第43-46页
        4.3.2 通过自由前缀树构造第46-53页
    4.4 仿真结果及分析第53-56页
        4.4.1 传统表示方案与等级调制方案的性能对比第53-55页
        4.4.2 自由前缀树构造等级调制码的性能分析第55-56页
    4.5 本章小结第56-57页
第五章 结论与展望第57-59页
参考文献第59-63页
致谢第63-65页
作者简介第65-66页

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