| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 高速数字电路和SI概述 | 第16-17页 |
| 1.1.1 高速数字电路概述 | 第16页 |
| 1.1.2 SI概述 | 第16-17页 |
| 1.2 研究背景和意义 | 第17-18页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第18-19页 |
| 1.4 研究内容和章节安排 | 第19-22页 |
| 第二章 高速数字电路SI问题的研究 | 第22-36页 |
| 2.1 传输线理论 | 第22-24页 |
| 2.1.1 传输线的模型 | 第22-23页 |
| 2.1.2 传输线的特征参数 | 第23-24页 |
| 2.2 典型的SI问题 | 第24-33页 |
| 2.2.1 反射 | 第24-27页 |
| 2.2.2 串扰 | 第27-30页 |
| 2.2.3 同步开关噪声 | 第30-33页 |
| 2.3 SI问题的根源 | 第33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-36页 |
| 第三章 某高速数字电路的SI分析与仿真 | 第36-54页 |
| 3.1 HyperLynx仿真平台的简介 | 第36-37页 |
| 3.1.1 HyperLynx软件 | 第36页 |
| 3.1.2 IBIS仿真模型 | 第36-37页 |
| 3.2 某高速数字电路及其SI问题分析 | 第37-39页 |
| 3.2.1 FPGA配置电路 | 第37页 |
| 3.2.2 DDR3高速存储电路 | 第37-38页 |
| 3.2.3 TLK2711高速数据传输电路 | 第38页 |
| 3.2.4 电源功能电路 | 第38-39页 |
| 3.3 SI分析与前仿真 | 第39-48页 |
| 3.3.1 FPGA配置电路的SI分析与仿真 | 第40-41页 |
| 3.3.2 DDR3高速存储电路的SI分析与仿真 | 第41-46页 |
| 3.3.3 TLK2711高速数据传输电路的SI分析与仿真 | 第46-48页 |
| 3.4 SI分析与后仿真 | 第48-52页 |
| 3.4.1 SI分析与全局快速仿真 | 第48-50页 |
| 3.4.2 SI分析与交互式仿真 | 第50-52页 |
| 3.5 高速数字电路的改进 | 第52-53页 |
| 3.6 本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 高速数字电路的测试与验证 | 第54-66页 |
| 4.1 测试平台 | 第54-55页 |
| 4.2 FPGA配置电路的测试 | 第55-57页 |
| 4.3 DDR3高速存储电路的测试 | 第57-59页 |
| 4.4 TLK2711高速数据传输电路的测试 | 第59-61页 |
| 4.5 高速数字电路整体的性能测试 | 第61-64页 |
| 4.6 本章小结 | 第64-66页 |
| 第五章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 5.1 总结 | 第66页 |
| 5.2 工作展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 致谢 | 第72-74页 |
| 作者简介 | 第74-76页 |
| 附录A | 第76页 |