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硅、锗材料的电光效应和光整流效应的研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第11-27页
    1.1 硅(锗)基光电子学的发展概述第11-12页
    1.2 硅(锗)基光电子学研究面临的挑战第12页
    1.3 硅和锗中的电光效应及其在调制器件中的应用第12-24页
        1.3.1 载流子色散效应及其应用第13-18页
        1.3.2 电吸收效应及其应用第18-19页
        1.3.3 Kerr效应第19-20页
        1.3.4 应力诱导的二阶非线性光学效应及其应用第20-23页
        1.3.5 电场诱导的二阶非线性光学效应及其应用第23-24页
    1.4 光整流效应及其应用第24-25页
    1.5 本论文的研究意义第25-26页
    1.6 本论文的主要工作第26-27页
第2章 硅材料电场诱导的Pockels效应和光整流效应第27-49页
    2.1 非线性光学效应的基本理论第27-32页
        2.1.1 Pockels效应的基本理论第27-30页
        2.1.2 光整流效应的基本理论第30-31页
        2.1.3 Kerr效应的基本理论第31-32页
    2.2 Si(001)晶面表层中电场诱导的Pockels效应的研究第32-40页
        2.2.1 Si(001)晶体结构及其表层对称性第32-34页
        2.2.2 横向电光调制系统及测试原理第34-37页
        2.2.3 Si(001)晶面表层的Pockels效应实验结果第37-40页
    2.3 Si(001)晶面表层中电场诱导的光整流效应研究第40-43页
        2.3.1 光整流效应的实验系统及实验原理第40-41页
        2.3.2 Si(001)晶面表层光整流效应的实验结果第41-43页
    2.4 Si(110)晶面表层中电场诱导的Pockels效应第43-46页
    2.5 Si(110)晶面表层中电场诱导的光整流效应第46-47页
    2.6 小结第47-49页
第3章 光整流效应在硅表面性质研究中的应用探索第49-67页
    3.1 Si(110)晶体中光整流信号的分布研究第49-57页
        3.1.1 光整流信号沿Si(110)晶面法线方向的分布第49-52页
        3.1.2 不同Si(110)晶面表层中Pockels信号的比较第52-54页
        3.1.3 Si(110)晶面表层中光整流信号分布的理论分析第54-57页
    3.2 Si(001)晶体中光整流信号的分布研究第57-59页
    3.3 Si(001)和Si(110)晶面表层二阶非线性极化率的比较第59-65页
        3.3.1 两个晶面Pockels效应和光整流效应的比较第59-62页
        3.3.2 Si(001)与Si(110)两个样品晶面表层二阶非线性差异的理论分析第62-65页
    3.4 小结第65-67页
第4章 锗材料电场诱导的光整流效应和Pockels效应第67-77页
    4.1 Ge(001)晶面表层的光整流效应第67-71页
        4.1.1 光整流效应实验的样品及测试系统第67-68页
        4.1.2 Ge(001)晶面表层光整流效应的各向异性第68-69页
        4.1.3 Ge(001)晶面表层中光整流信号沿晶面法线方向的分布第69-71页
    4.2 Ge(110)晶面表层的光整流效应第71-73页
    4.3 Ge(111)晶面表层光整流效应和Pockels效应的初步研究第73-75页
    4.4 小结第75-77页
第5章 锗材料的Franz-Keldysh效应和载流子色散效应第77-95页
    5.1 研究背景和基本原理第77-80页
    5.2 锗材料的Franz-Keldysh效应第80-82页
    5.3 锗材料的载流子色散效应第82-92页
        5.3.1 N型锗的载流子色散效应第82-88页
        5.3.2 P型锗的载流子色散效应第88-92页
    5.4 N型锗和P型锗载流子色散效应的比较第92-93页
    5.5 小结第93-95页
第6章 结论第95-97页
参考文献第97-113页
作者简介及在学期间所取得的科研成果第113-115页
致谢第115页

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