数据驱动的多采样率系统的故障检测
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| 1.1 研究背景 | 第7-8页 |
| 1.2 故障检测方法概述 | 第8-13页 |
| 1.2.1 图论方法 | 第9页 |
| 1.2.2 专家系统 | 第9页 |
| 1.2.3 定性仿真 | 第9-10页 |
| 1.2.4 基于解析模型的方法 | 第10-11页 |
| 1.2.5 基于数据驱动的方法 | 第11-13页 |
| 1.3 本文主要工作及内容安排 | 第13-15页 |
| 第二章 多采样率系统与TE仿真模型 | 第15-29页 |
| 2.1 多采样率系统概述 | 第15-17页 |
| 2.1.1 多采样率系统的基本知识 | 第15-16页 |
| 2.1.2 多采样率过程监控的发展现状 | 第16-17页 |
| 2.2 多采样率数据的处理方法 | 第17-22页 |
| 2.2.1 一般处理方法 | 第18-20页 |
| 2.2.2 基于数字信号处理的方法 | 第20-22页 |
| 2.3 TE过程描述 | 第22-27页 |
| 2.3.1 TE过程工艺介绍 | 第22-24页 |
| 2.3.2 过程变量 | 第24-26页 |
| 2.3.3 过程故障 | 第26-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-29页 |
| 第三章 基于核主元分析的多采样率系统的故障检测 | 第29-42页 |
| 3.1 主元分析方法 | 第29-32页 |
| 3.1.1 主元分析的基本原理 | 第29页 |
| 3.1.2 主元分析建模方法 | 第29-31页 |
| 3.1.3 基于主元分析的故障检测算法 | 第31-32页 |
| 3.2 核主元分析方法 | 第32-35页 |
| 3.2.1 核主元分析的基本原理 | 第32-34页 |
| 3.2.2 基于核主元分析的故障检测方法 | 第34-35页 |
| 3.3 多采样率核主元分析故障检测算法 | 第35-37页 |
| 3.4 仿真结果对比分析 | 第37-41页 |
| 3.4.1 数值仿真 | 第37-39页 |
| 3.4.2 TE过程仿真 | 第39-41页 |
| 3.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 基于核偏最小二乘的多采样率系统的故障检测 | 第42-51页 |
| 4.1 偏最小二乘法 | 第42-44页 |
| 4.1.1 偏最小二乘理论 | 第42-43页 |
| 4.1.2 基于PLS的故障检测方法 | 第43-44页 |
| 4.2 核偏最小二乘法 | 第44-46页 |
| 4.2.1 核偏最小二乘建模方法 | 第44-45页 |
| 4.2.2 基于KPLS的故障检测方法 | 第45-46页 |
| 4.3 多采样率核偏最小二乘故障检测算法 | 第46-48页 |
| 4.4 仿真结果对比分析 | 第48-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 结论与展望 | 第51-53页 |
| 5.1 主要结论 | 第51页 |
| 5.2 研究展望 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-58页 |
| 在学期间的研究成果 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
