| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 超导的发展 | 第8-9页 |
| 1.2 超导体交流电阻的产生 | 第9-11页 |
| 1.3 超导薄膜微波表面阻抗测试方法简介 | 第11-12页 |
| 1.4 本论文每章节的主要内容 | 第12-13页 |
| 第二章 超导薄膜的微波表面阻抗测试的理论基础 | 第13-25页 |
| 2.1 超导单晶表面阻抗测量技术 | 第13-15页 |
| 2.1.1 开口环谐振器 | 第13-14页 |
| 2.1.2 hot-finger技术 | 第14-15页 |
| 2.2 超导薄膜表面电阻的测量技术 | 第15-17页 |
| 2.2.1 圆柱腔谐振器 | 第16-17页 |
| 2.2.2 平行板谐振器技术 | 第17页 |
| 2.3 介质谐振器法 | 第17-21页 |
| 2.3.1 介质谐振器的工作机理 | 第18-19页 |
| 2.3.2 常见的介质谐振器装置 | 第19-20页 |
| 2.3.3 介质谐振器的品质因数 | 第20-21页 |
| 2.4 有载品质因数QL的计算 | 第21-22页 |
| 2.5 保持介质谐振器在电路中较高的Q值 | 第22-23页 |
| 2.6 微波表面电阻R_s的计算方法 | 第23页 |
| 2.7 微波谐振腔的微扰 | 第23-25页 |
| 第三章 蓝宝石介质谐振器测试系统的搭建 | 第25-38页 |
| 3.1 概述 | 第25-26页 |
| 3.2 蓝宝石介质柱 | 第26页 |
| 3.3 金属屏蔽腔 | 第26-30页 |
| 3.4 耦合环 | 第30页 |
| 3.5 自动测试系统的搭建 | 第30-33页 |
| 3.5.1 运用LabVIEW对测量仪器进行控制 | 第31-33页 |
| 3.5.2 运用Mathematica对数据进行处理 | 第33页 |
| 3.6 仿真 | 第33-38页 |
| 第四章 测试数据及分析 | 第38-53页 |
| 4.1 屏蔽腔背景测试 | 第38-40页 |
| 4.2 Nb超导薄膜的测试 | 第40-47页 |
| 4.2.1 Nb超导薄膜f_0和Q_L的测试 | 第40-42页 |
| 4.2.2 Nb超导薄膜R_s~(eff)和δλ~(eff)的计算 | 第42-44页 |
| 4.2.3 Nb超导薄膜R_s和X_s的计算 | 第44-45页 |
| 4.2.4 Nb超导薄膜电导率的计算 | 第45-47页 |
| 4.3 NbN超导薄膜的测试 | 第47-52页 |
| 4.3.1 NbN超导薄膜f_0和Q_L的测试 | 第47-49页 |
| 4.3.2 NbN超导薄膜R_s~(eff)和δλ~(eff)的计算 | 第49-50页 |
| 4.3.3 NbN超导薄膜R_s和X_s的计算 | 第50-51页 |
| 4.3.4 NbN超导薄膜电导率的计算 | 第51-52页 |
| 4.4 小结 | 第52-53页 |
| 第五章 总结与展望 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-56页 |
| 研究生阶段研究成果 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
