阵列天线设计及非线性校准技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 论文研究背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 共形阵列天线研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 相控阵校准技术研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 论文主要工作和内容安排 | 第14-15页 |
| 第二章 阵列天线原理及激励误差分析 | 第15-21页 |
| 2.1 阵列天线基本理论 | 第15-16页 |
| 2.2 阵列激励误差对阵列方向图的影响 | 第16-20页 |
| 2.2.1 激励幅度误差对方向图的影响 | 第17-18页 |
| 2.2.2 激励相位误差对方向图的影响 | 第18-20页 |
| 2.2.3 激励幅相误差对方向图的影响 | 第20页 |
| 2.3 本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 相控阵非线性校准方法 | 第21-44页 |
| 3.1 旋转电矢量法 | 第21-26页 |
| 3.1.1 旋转电矢量法原理介绍 | 第21-24页 |
| 3.1.2 旋转电矢量法的具体校准步骤 | 第24-26页 |
| 3.2 基于快速傅里叶变换的旋转电矢量法 | 第26-30页 |
| 3.2.1 快速傅里叶变换 | 第26-27页 |
| 3.2.2 仿真结果 | 第27-28页 |
| 3.2.3 移相器误差对校准的影响讨论 | 第28-30页 |
| 3.3 互耦旋转电矢量法 | 第30-37页 |
| 3.3.1 互耦校准原理 | 第31-33页 |
| 3.3.2 互耦旋转矢量法原理 | 第33-34页 |
| 3.3.3 互耦旋转矢量法仿真 | 第34-37页 |
| 3.4 基于余弦定理的相位测试法 | 第37-43页 |
| 3.4.1 基于余弦定理的相位测试法基本原理 | 第37-39页 |
| 3.4.2 基于余弦定理的相位测试法的精度讨论 | 第39-41页 |
| 3.4.3 校准的仿真和测试结果 | 第41-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 共形微带阵列天线设计 | 第44-67页 |
| 4.1 微带八木天线单元 | 第44-50页 |
| 4.1.1 微带天线原理简介 | 第44-46页 |
| 4.1.2 微带八木天线原理简介 | 第46-48页 |
| 4.1.3 微带八木天线单元设计 | 第48-50页 |
| 4.2 微带八木天线阵列方向图综合 | 第50-52页 |
| 4.3 功分网络对仿真结果的影响及改进方法 | 第52-56页 |
| 4.3.1 微带线功分网络辐射泄漏对方向图的影响 | 第52-54页 |
| 4.3.2 带状线形式的功分网络设计 | 第54-56页 |
| 4.4 阵列天线整体仿真结果 | 第56-57页 |
| 4.5 阵列天线加工及测试 | 第57-66页 |
| 4.5.1 天线加工和测试 | 第57-59页 |
| 4.5.2 天线测试结果分析 | 第59-66页 |
| 4.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 结束语 | 第67-69页 |
| 5.1 文章总结 | 第67页 |
| 5.2 对未来研究的展望 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第74-75页 |
