高速CMOS电荷泵锁相环设计
| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9页 |
| 第一章 绪论 | 第15-18页 |
| 1.1 课题的背景 | 第15-16页 |
| 1.2 锁相环的发展与研究状况 | 第16-17页 |
| 1.3 本文的主要内容安排 | 第17-18页 |
| 第二章 锁相环理论基础 | 第18-27页 |
| 2.1 锁相环的分类 | 第18-20页 |
| 2.1.1 模拟锁相环 | 第18-19页 |
| 2.1.2 数模混合锁相环 | 第19页 |
| 2.1.3 数字锁相环 | 第19-20页 |
| 2.2 电荷泵锁相环结构分析 | 第20-25页 |
| 2.2.1 鉴频鉴相器(PFD) | 第20-21页 |
| 2.2.2 电荷泵(CP) | 第21-22页 |
| 2.2.3 环路滤波器(LPF) | 第22-23页 |
| 2.2.4 压控振荡器(VCO) | 第23-24页 |
| 2.2.5 分频器(FD) | 第24页 |
| 2.2.6 电荷泵锁相环系统数学模型 | 第24-25页 |
| 2.3 电荷泵锁相环系统关键参数 | 第25-26页 |
| 2.3.1 电荷泵锁相环工作状态 | 第25页 |
| 2.3.2 锁相环设计参数 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 电荷泵锁相环结构设计 | 第27-56页 |
| 3.1 锁相环设计流程 | 第27-28页 |
| 3.2 电荷泵锁相环性能参数设定 | 第28-29页 |
| 3.3 电荷泵锁相环系统结构设计 | 第29-30页 |
| 3.4 鉴频鉴相器设计 | 第30-34页 |
| 3.4.1 鉴频鉴相器的实现 | 第30-32页 |
| 3.4.2 鉴频鉴相器电路设计与仿真 | 第32-34页 |
| 3.5 电荷泵设计 | 第34-38页 |
| 3.5.1 电荷泵的非理想性 | 第34-35页 |
| 3.5.2 电荷泵电路设计与仿真 | 第35-38页 |
| 3.6 环路滤波器设计 | 第38-41页 |
| 3.6.1 环路滤波器稳定性设计 | 第38-40页 |
| 3.6.2 环路滤波器电路设计 | 第40-41页 |
| 3.7 压控振荡器驱动模块设计 | 第41-42页 |
| 3.8 压控振荡器设计 | 第42-51页 |
| 3.8.1 压控振荡器性能参数 | 第43-44页 |
| 3.8.2 压控振荡器整体结构 | 第44-45页 |
| 3.8.3 压控振荡延迟单元设计 | 第45-47页 |
| 3.8.4 起振条件与起振电路设计 | 第47-50页 |
| 3.8.5 压控振荡器电路仿真 | 第50-51页 |
| 3.9 分频器设计 | 第51-53页 |
| 3.10 基准偏置模块描述 | 第53页 |
| 3.11 电荷泵锁相环系统仿真 | 第53-55页 |
| 3.12 本章小结 | 第55-56页 |
| 第四章 版图设计与后端验证 | 第56-64页 |
| 4.1 版图概述 | 第56-57页 |
| 4.1.1 数字版图 | 第56页 |
| 4.1.2 模拟版图 | 第56-57页 |
| 4.2 版图中的非理想效应 | 第57-58页 |
| 4.2.1 寄生效应 | 第57-58页 |
| 4.2.2 天线效应 | 第58页 |
| 4.3 电荷泵锁相环版图实现 | 第58-61页 |
| 4.3.1 模拟模块版图设计 | 第58-60页 |
| 4.3.2 整体版图设计 | 第60-61页 |
| 4.4 版图物理验证与后端仿真 | 第61-63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 芯片测试电路设计及芯片测试 | 第64-69页 |
| 5.1 芯片测试PCB版图设计 | 第64-66页 |
| 5.1.1 PCB设计概念和规则 | 第65页 |
| 5.1.2 PCB版图设计 | 第65-66页 |
| 5.2 芯片测试 | 第66-68页 |
| 5.3 本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 6.1 工作总结 | 第69页 |
| 6.2 展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第74页 |
