基于双层平板探测器的能谱CT仿真与实现
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-19页 |
1.1 研究背景 | 第11-15页 |
1.1.1 安检领域 | 第11-12页 |
1.1.2 医疗领域 | 第12页 |
1.1.3 双能CT的发展现状 | 第12-15页 |
1.2 研究意义 | 第15-16页 |
1.3 研究方法 | 第16-17页 |
1.4 本文研究内容 | 第17-19页 |
第2章 CT成像基本原理 | 第19-37页 |
2.1 X射线与物质的相互作用 | 第19-22页 |
2.1.1 X射线与物质的作用机制 | 第19-21页 |
2.1.2 反应截面与衰减系数 | 第21-22页 |
2.2 数字平板探测器基础 | 第22-24页 |
2.2.1 平板探测器工作原理 | 第22-23页 |
2.2.2 平板探测器的两种能量转化方式 | 第23-24页 |
2.3 CT的基本结构 | 第24-26页 |
2.3.1 X射线管 | 第24-25页 |
2.3.2 准直器 | 第25页 |
2.3.3 X射线探测器 | 第25-26页 |
2.3.4 机架与滑环 | 第26页 |
2.4 CT成像原理 | 第26-28页 |
2.4.1 单能CT成像原理 | 第26-27页 |
2.4.2 双能CT成像原理 | 第27-28页 |
2.5 GATE仿真平台介绍 | 第28-36页 |
2.5.1 GATE介绍 | 第28-30页 |
2.5.2 GATE平台的架构 | 第30-32页 |
2.5.3 模块介绍 | 第32-36页 |
2.6 本章小结 | 第36-37页 |
第3章 能谱CT成像系统模拟设计 | 第37-49页 |
3.1 放射源模块 | 第37-39页 |
3.2 模体模块 | 第39-40页 |
3.3 探测器模块 | 第40-47页 |
3.3.1 闪烁晶体的选择 | 第41-42页 |
3.3.2 闪烁晶体的探测效率 | 第42-43页 |
3.3.3 闪烁晶体的深度 | 第43-45页 |
3.3.4 衰减层的选择 | 第45-46页 |
3.3.5 双层平板探测器模拟结果 | 第46-47页 |
3.4 能谱CT仿真设计结果 | 第47-48页 |
3.5 本章小结 | 第48-49页 |
第4章 结果与讨论 | 第49-71页 |
4.1 仿真数据处理及投影图像分析 | 第49-53页 |
4.1.1 仿真数据处理 | 第49-51页 |
4.1.2 投影图像分析 | 第51-53页 |
4.2 基于仿真数据的双能减影 | 第53-59页 |
4.2.1 双能减影原理 | 第53-54页 |
4.2.2 实验介绍 | 第54-55页 |
4.2.3 双能减影结果分析 | 第55-59页 |
4.3 基于FDK算法的模拟数据重建 | 第59-66页 |
4.3.1 FDK重建算法 | 第59-61页 |
4.3.2 实验介绍 | 第61-63页 |
4.3.3 重建结果及分析 | 第63-66页 |
4.4 基于GATE的介质质量衰减系数验证 | 第66-69页 |
4.4.1 XCOM标准数据库 | 第66-67页 |
4.4.2 介质质量衰减系数的计算 | 第67页 |
4.4.3 实验设计 | 第67-68页 |
4.4.4 实验结果与分析 | 第68-69页 |
4.5 本章小结 | 第69-71页 |
第5章 总结与展望 | 第71-73页 |
5.1 能谱CT基础理论 | 第71页 |
5.2 能谱CT系统设计 | 第71页 |
5.3 基于能谱CT系统的仿真数据的处理与分析 | 第71-72页 |
5.4 基于窄束X射线的介质质量衰减系数验证 | 第72页 |
5.5 工作展望 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-77页 |
致谢 | 第77页 |