激光共焦扫描显微镜研究与软件研制
| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-21页 |
| §1．1 三维显微术 | 第7-11页 |
| §1．1．1 扫描全息显微术 | 第7-8页 |
| §1．1．2 结构光投影 | 第8-9页 |
| §1．1．3 光学CT | 第9-10页 |
| §1．1．4 RSI（旋转剪切干涉仪） | 第10-11页 |
| §1．2 共焦扫描显微术 | 第11-17页 |
| §1．2．1 光路原理 | 第11-12页 |
| §1．2．2 常见显微镜介绍 | 第12-14页 |
| §1．2．3 LCSM的应用 | 第14-17页 |
| §1．3 本文研究内容 | 第17-21页 |
| 第二章 CSM成像特性分析 | 第21-33页 |
| §2．1 基本结构 | 第21-22页 |
| §2．2 横向分辨率分析 | 第22-24页 |
| §2．3 轴向分辨率分析 | 第24-33页 |
| §2．3．1 探测器状况对轴向分辨率的影响 | 第24-28页 |
| §2．3．2 探测小孔位置对轴向分辨率的影响 | 第28页 |
| §2．3．3 光瞳函数对轴向分辨率的影响 | 第28-33页 |
| 第三章 可视化技术 | 第33-43页 |
| §3．1 科学计算可视化简述 | 第33-37页 |
| §3．1．1 参考模型 | 第33-35页 |
| §3．1．2 数据可视化意义 | 第35-36页 |
| §3．1．3 可视化技术的应用 | 第36-37页 |
| §3．2 可视化技术 | 第37-43页 |
| §3．2．1 可视化技术分类 | 第37-38页 |
| §3．2．2 层析数据可视化方法 | 第38-43页 |
| 第四章 图像软件研制 | 第43-73页 |
| §4．1 二维图像分析与处理基本功能 | 第43-44页 |
| §4．2 图像数据管理功能 | 第44-46页 |
| §4．3 三维图像重建 | 第46-49页 |
| §4．3．1 基本功能 | 第46-47页 |
| §4．3．2 文件格式定义 | 第47-49页 |
| §4．3．3 尚待优化 | 第49页 |
| §4．4 接口设计 | 第49-52页 |
| §4．5 算法研究 | 第52-65页 |
| §4．5．1 AMC | 第52-57页 |
| §4．5．2 Cell-Counting | 第57-63页 |
| §4．5．3 空间变换重建 | 第63-65页 |
| §4．6 系统实现 | 第65-73页 |
| §4．6．1 工具选择 | 第65-66页 |
| §4．6．2 系统设计 | 第66-69页 |
| §4．6．3 系统特点 | 第69-70页 |
| §4．6．4 软件发行 | 第70-73页 |
| 第五章 样机系统及结果 | 第73-83页 |
| §5．1 系统组成 | 第73-78页 |
| §5．1．1 光学成像模块 | 第74-75页 |
| §5．1．2 机械扫描模块 | 第75-76页 |
| §5．1．3 光电转换模块 | 第76页 |
| §5．1．4 数据采集模块 | 第76页 |
| §5．1．5 计算机控制模块 | 第76-77页 |
| §5．1．6 图像获取模块 | 第77-78页 |
| §5．2 测试结果及分析 | 第78-83页 |
| §5．2．1 荧光样品测量 | 第79-81页 |
| §5．2．2 光栅样品测量 | 第81-82页 |
| §5．2．3 芯片样品测量 | 第82-83页 |
| 第六章 总结与展望 | 第83-85页 |
| 致谢 | 第85页 |
