| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| ·研究背景与研究意义 | 第9-10页 |
| ·研究背景 | 第9-10页 |
| ·研究意义 | 第10页 |
| ·文献综述 | 第10-15页 |
| ·论文结构安排与主要创新 | 第15-19页 |
| ·论文结构安排 | 第15-16页 |
| ·论文主要创新 | 第16-19页 |
| 第二章 多元自相关过程控制的基本理论与方法 | 第19-37页 |
| ·多元控制图 | 第19-22页 |
| ·多元休哈特控制图 | 第19-21页 |
| ·MEWMA 控制图 | 第21-22页 |
| ·多元自相关过程模型 | 第22-28页 |
| ·协方差和相关矩阵函数 | 第22-23页 |
| ·向量时间序列过程 | 第23-28页 |
| ·自相关对多元控制图性能影响分析 | 第28-30页 |
| ·自相关对控制图影响的实例分析 | 第28-29页 |
| ·自相关对控制图 ARL 的影响研究 | 第29-30页 |
| ·常用的多元自相关过程控制方法 | 第30-36页 |
| ·残差控制图方法 | 第30-31页 |
| ·Z 控制图方法 | 第31-34页 |
| ·修正控制限的方法 | 第34-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 多元自相关过程控制方法性能比较 | 第37-49页 |
| ·残差 T~2控制图 ARL的计算方法研究 | 第37-41页 |
| ·残差 T~2 统计量分布属性 | 第37-40页 |
| ·效果分析 | 第40页 |
| ·例子 | 第40-41页 |
| ·残差控制图方向不变性研究 | 第41-44页 |
| ·三种控制图 ARL 性能比较 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-49页 |
| 第四章 样本数量对多元自相关过程控制方法性能影响分析 | 第49-61页 |
| ·独立多元过程样本量大小对单值 T~2控制图性能影响研究 | 第49-53页 |
| ·独立多元过程单值 T~2控制图平均链长仿真步骤 | 第49-50页 |
| ·实例分析 | 第50-53页 |
| ·多元自相关过程样本量大小对残差 T~2控制图性能影响研究 | 第53-59页 |
| ·残差 T~2控制图平均运行链长仿真步骤 | 第53-54页 |
| ·多元自相关过程残差 T~2控制图实例分析 | 第54-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 多元自相关过程控制方法对正态性假设的稳健性分析 | 第61-77页 |
| ·多元正态分布与多元 t 分布 | 第61-68页 |
| ·多元正态分布 | 第61-62页 |
| ·多元 t 分布 | 第62-63页 |
| ·正态分布与 t 分布概率密度图对比 | 第63-68页 |
| ·误差项非正态对残差控制图性能影响示例 | 第68-70页 |
| ·误差项非正态对控制图 ARL 性能影响仿真研究 | 第70-73页 |
| ·误差项非正态对残差 T~2控制图ARL 性能影响仿真研究 | 第70-71页 |
| ·误差项非正态对残差 MEWMA 控制图 ARL 性能影响仿真研究 | 第71-73页 |
| ·残差 MEWMA 控制图选用较小平滑参数的性能损失研究 | 第73-75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 第六章 基于支持向量机的监控与诊断方法研究 | 第77-93页 |
| ·支持向量机的基本概念 | 第78-85页 |
| ·统计学习理论-VC 维与结构风险最小化原则 | 第78-80页 |
| ·线性可分支持向量机 | 第80-82页 |
| ·不可分问题 | 第82-83页 |
| ·非线性支持向量分类机 | 第83-85页 |
| ·基于 SVM 的过程监控和诊断方法 | 第85-92页 |
| ·基于支持向量机的过程监控和诊断模型 | 第85-87页 |
| ·数据预处理 | 第87-89页 |
| ·性能比较研究 | 第89-92页 |
| ·本章小结 | 第92-93页 |
| 第七章 总结与展望 | 第93-95页 |
| ·论文总结 | 第93-94页 |
| ·展望 | 第94-95页 |
| 参考文献 | 第95-103页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第103-105页 |
| 致谢 | 第105页 |
