新型存储器老化测试系统的实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| ·研究背景与意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状和发展趋势 | 第10-11页 |
| ·论文的主要内容及结构安排 | 第11-13页 |
| 第2章 存储器老化测试系统方案 | 第13-22页 |
| ·老化测试系统结构 | 第13-15页 |
| ·老化测试系统基本原理 | 第13-14页 |
| ·老化测试系统的设计要求 | 第14-15页 |
| ·存储器测试技术 | 第15-19页 |
| ·存储器分类 | 第15-16页 |
| ·存储器的故障模型与测试类型 | 第16-17页 |
| ·存储器的测试算法 | 第17-19页 |
| ·系统的设计方案与论证 | 第19-21页 |
| ·信号产生与回检流程 | 第19-20页 |
| ·需求分析与方案论证 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 存储器老化测试的硬件设计 | 第22-38页 |
| ·基于信号完整性理论的 PCB 设计 | 第22-30页 |
| ·信号完整性理论 | 第22-25页 |
| ·基于信号完整性的电路设计 | 第25-27页 |
| ·部分高速信号线的 SI 分析 | 第27-30页 |
| ·FPGA 及外围电路设计 | 第30-34页 |
| ·FPGA 配置电路与供电模块 | 第30-32页 |
| ·波形产生电路设计 | 第32-33页 |
| ·驱动电路设计 | 第33-34页 |
| ·波形回检电路设计 | 第34页 |
| ·二级电源电路设计 | 第34-36页 |
| ·大功率程控电源设计 | 第35页 |
| ·电源保护电路设计 | 第35-36页 |
| ·ARM 及外围电路设计 | 第36-37页 |
| ·ARM 的主要特点与应用 | 第36页 |
| ·ARM 外围电路设计 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 存储器老化测试的系统设计 | 第38-47页 |
| ·基于 FPGA 的外围驱动设计 | 第38-42页 |
| ·SDRAM 驱动设计 | 第38-39页 |
| ·A/D、D/A 驱动设计 | 第39-41页 |
| ·DDS 设计 | 第41-42页 |
| ·嵌入式系统平台设计 | 第42-46页 |
| ·嵌入式 Linux 概述与开发环境构建 | 第42-43页 |
| ·老化测试中的嵌入式平台系统设计 | 第43-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第5章 存储器老化测试调试与分析 | 第47-53页 |
| ·系统调试硬件平台的建立 | 第47-48页 |
| ·波形产生电路调试 | 第48-50页 |
| ·波形回检电路调试 | 第50页 |
| ·系统的整体调试与分析 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第6章 总结与展望 | 第53-55页 |
| ·本文工作总结 | 第53页 |
| ·对后续研究工作的展望 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 附录 | 第59页 |
