| 作者简介 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第一章 电感耦合等离子体质谱简介 | 第9-23页 |
| ·引言 | 第9-11页 |
| ·ICP-MS仪器基本原理 | 第11-15页 |
| ·等离子体和矩管 | 第12-13页 |
| ·等离子体和质谱仪之间的接口 | 第13页 |
| ·离子聚焦系统(离子透镜) | 第13-14页 |
| ·四极杆质量分析器和离子检测器 | 第14-15页 |
| ·ICP-MS中的干扰 | 第15-16页 |
| ·同量异位素的干扰 | 第15页 |
| ·多原子和双价离子的干扰 | 第15-16页 |
| ·非质谱干扰 | 第16页 |
| ·LA-ICP-MS技术简介 | 第16-21页 |
| ·激光剥蚀技术的发展 | 第17-19页 |
| ·LA-ICP-MS中元素的分馏 | 第19-21页 |
| ·选题来源、目的和意义 | 第21-23页 |
| 第二章 LA-ICP-MS无内标法准确分析碳酸岩的研究 | 第23-40页 |
| ·引言 | 第23-24页 |
| ·实验部分 | 第24-27页 |
| ·国际地质参考物质和样品准备 | 第24-25页 |
| ·仪器和操作条件 | 第25页 |
| ·数据校准 | 第25-27页 |
| ·结果和讨论 | 第27-40页 |
| ·方法不确定度 | 第27页 |
| ·NIST SRM610参考物质校准结果 | 第27-28页 |
| ·MPI-DING玻璃参考物质校准结果 | 第28-30页 |
| ·碳酸岩压饼片GP-4和天然方解石样品的分析结果 | 第30-40页 |
| 第三章 结论及存在不足 | 第40-41页 |
| ·结论 | 第40页 |
| ·存在不足 | 第40-41页 |
| 致谢 | 第41-42页 |
| 参考文献 | 第42-48页 |