基于液晶热光效应的非电读出热探测技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| ·研究背景 | 第8页 |
| ·外探测技术研究综述 | 第8-12页 |
| ·红外探测技术的发展 | 第8-9页 |
| ·红外探测器的分类 | 第9-11页 |
| ·目前红外探测器存在的问题 | 第11页 |
| ·光学读出热成像技术的研究进展 | 第11-12页 |
| ·本文的主要研究工作 | 第12页 |
| ·小结 | 第12-13页 |
| 2 光学读出系统 | 第13-19页 |
| ·红外辐射概述 | 第13-15页 |
| ·红外辐射特性 | 第13页 |
| ·影响红外探测精度的因素 | 第13-15页 |
| ·红外探测成像系统 | 第15-18页 |
| ·红外敏感材料 | 第15页 |
| ·光学读出系统 | 第15-17页 |
| ·外液晶盒的设计 | 第17-18页 |
| ·小结 | 第18-19页 |
| 3 胆甾相液晶热光效应研究 | 第19-27页 |
| ·胆甾相液晶 | 第19-21页 |
| ·胆甾相液晶的介绍 | 第19-20页 |
| ·胆甾相液晶的光学特性 | 第20-21页 |
| ·胆甾相液晶在温度测量中的应用 | 第21页 |
| ·胆甾相液晶旋光特性的研究 | 第21-26页 |
| ·胆甾相液晶的配制 | 第21-22页 |
| ·试验测试及数据分析 | 第22-25页 |
| ·旋光性能较好的胆甾相液晶样品 | 第25-26页 |
| ·小结 | 第26-27页 |
| 4 ITO薄膜的制备及相关性能测试 | 第27-33页 |
| ·薄膜制备 | 第27-30页 |
| ·磁控溅射装置 | 第27页 |
| ·磁控镀膜机理及特点 | 第27-28页 |
| ·溅射类型 | 第28-29页 |
| ·磁控溅射的影响因素 | 第29-30页 |
| ·薄膜的性能测试 | 第30-32页 |
| ·膜厚的测量 | 第30页 |
| ·四探针法测量薄膜的方阻 | 第30-31页 |
| ·分光光度计测量薄膜透过率 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 5 工艺参数对ITO薄膜特性的影响 | 第33-43页 |
| ·ITO薄膜厚度及光学特性的研究 | 第33-39页 |
| ·射频功率对ITO薄膜厚度及光学特性的影响 | 第33-34页 |
| ·溅射气压对ITO薄膜厚度及光学特性的影响 | 第34-36页 |
| ·衬底温度对ITO薄膜厚度及光学特性的影响 | 第36-37页 |
| ·氧气比例对ITO薄膜厚度及光学特性的影响 | 第37-39页 |
| ·ITO薄膜的方阻与红外吸收特性研究 | 第39-42页 |
| ·ITO薄膜方阻与红外吸收的关系 | 第39-40页 |
| ·衬底温度对ITO薄膜方阻的影响 | 第40页 |
| ·氧气比例对ITO薄膜方阻的影响 | 第40-41页 |
| ·热处理温度对ITO薄膜方阻的影响 | 第41-42页 |
| ·其它工艺参数对ITO薄膜方阻的影响 | 第42页 |
| ·小结 | 第42-43页 |
| 6 取向薄膜的制备 | 第43-48页 |
| ·聚酰亚胺的制备方法 | 第43-44页 |
| ·聚酰亚胺薄膜厚度的控制 | 第44-46页 |
| ·PI浓度对PI薄膜厚度的影响 | 第44-45页 |
| ·匀胶转速对PI薄膜厚度的影响 | 第45-46页 |
| ·热处理温度与时间对PI薄膜厚度的影响 | 第46页 |
| ·聚酰亚胺的光学特性 | 第46-47页 |
| ·小结 | 第47-48页 |
| 7 结论 | 第48-50页 |
| ·结论 | 第48页 |
| ·展望 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-56页 |
