| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| ·本课题的来源及研究背景 | 第10页 |
| ·汽车中央电气盒综述及本文研究的意义 | 第10-12页 |
| ·汽车中央电气盒简介及分类 | 第10-11页 |
| ·汽车中央电气盒的国内外发展历程及现状 | 第11-12页 |
| ·过盈配合联接概述及国内外研究现状 | 第12-14页 |
| ·过盈配合联接概述 | 第12页 |
| ·过盈配合联接国内外研究现状 | 第12-14页 |
| ·熔接线概述及国内外研究现状 | 第14-16页 |
| ·熔接线概述 | 第14页 |
| ·熔接线的国内外研究现状 | 第14-16页 |
| ·研究内容和技术路线 | 第16-19页 |
| ·本文的研究内容和技术路线 | 第16-17页 |
| ·研究内容安排 | 第17-19页 |
| 第2章 中央电气盒装配孔开裂问题理论分析 | 第19-35页 |
| ·中央电气盒装配孔开裂问题初步分析 | 第19-21页 |
| ·失效分析树分析方法简介 | 第19-20页 |
| ·中央电气盒套筒装配开裂问题现象描述 | 第20页 |
| ·基于失效分析树的中央电气盒装配开裂问题分析 | 第20-21页 |
| ·过盈配合联接分析理论概述 | 第21-24页 |
| ·过盈配合联接的特点及应用 | 第21-22页 |
| ·过盈配合联接的工作原理 | 第22-23页 |
| ·过盈配合联接的装配方法 | 第23页 |
| ·过盈配合联接设计计算 | 第23-24页 |
| ·基于传统理论的中央电气盒装配孔过盈配合联接设计分析 | 第24-28页 |
| ·中央电气盒装配孔设计的校核方法及公式 | 第24-26页 |
| ·中央电气盒装配孔设计的校核结果分析 | 第26-28页 |
| ·熔接线理论概述 | 第28-33页 |
| ·熔接线概述 | 第28页 |
| ·熔接线的分类及特征 | 第28-30页 |
| ·熔接线的形成机理 | 第30-32页 |
| ·熔接线改进的基本方法 | 第32-33页 |
| ·基于传统理论的中央电气盒装配孔熔接线分析 | 第33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 第3章 基于有限元理论的中央电气盒装配孔熔接线问题分析 | 第35-52页 |
| ·MoldFlow软件介绍 | 第35-36页 |
| ·Moldflow分析的理论基础 | 第36-37页 |
| ·塑料流动分析的基本方程 | 第36页 |
| ·塑料熔体的粘性方程 | 第36-37页 |
| ·MoldFlow在熔接线问题分析中的作用 | 第37页 |
| ·基于MoldFlow的中央电气盒有限元模型的建立 | 第37-40页 |
| ·模型的导入及网格划分 | 第37-38页 |
| ·注浇口的设置 | 第38-39页 |
| ·材料的选择 | 第39-40页 |
| ·中央电气盒模流分析结果研究 | 第40-44页 |
| ·中央电气盒熔接线问题的改进分析 | 第44-51页 |
| ·更改注塑工艺-提高模具温度和增加注塑压力 | 第44-48页 |
| ·修改模具-增加注浇口 | 第48-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 基于有限元理论的中央电气盒装配孔设计分析 | 第52-77页 |
| ·基于有限元理论的过盈配合联接概述 | 第52-53页 |
| ·有限元简介 | 第52页 |
| ·有限元分析过盈配合联接的理论基础 | 第52-53页 |
| ·有限元模型建立流程 | 第53-54页 |
| ·几何模型的建立和简化 | 第54-55页 |
| ·几何模型建立 | 第54页 |
| ·几何模型简化 | 第54-55页 |
| ·几何模型的导入 | 第55页 |
| ·有限元模型的建立 | 第55-59页 |
| ·有限元网格划分 | 第55-57页 |
| ·有限元模型的组合 | 第57页 |
| ·材料参数设置 | 第57页 |
| ·施加位移工况和边界条件 | 第57-58页 |
| ·建立接触面 | 第58-59页 |
| ·有限元计算结果分析 | 第59-73页 |
| ·过盈量为0.04mm时的有限元计算结果分析 | 第59-61页 |
| ·过盈量为0.06mm时的有限元计算结果分析 | 第61-63页 |
| ·过盈量为0.1mm时的有限元计算结果分析 | 第63-65页 |
| ·过盈量为0.2mm时的有限元计算结果分析 | 第65-67页 |
| ·过盈量为0.3mm时的有限元计算结果分析 | 第67-69页 |
| ·过盈量为0.7mm时的有限元计算结果分析 | 第69-73页 |
| ·分析总结及建议 | 第73页 |
| ·考虑有熔接线时的有限元分析 | 第73-75页 |
| ·熔接线模型的建立 | 第74页 |
| ·有限元的计算结果分析 | 第74-75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 第5章 中央电气盒装配孔改进设计 | 第77-80页 |
| ·中央电气盒装配孔开裂问题总结 | 第77页 |
| ·中央电气盒装配孔熔接线问题改进 | 第77页 |
| ·中央电气盒装配孔结构问题设计改进 | 第77-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第6章 总结和展望 | 第80-82页 |
| ·本文的主要研究内容及结论 | 第80页 |
| ·研究展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
