多参数存储测试技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| ·课题的背景与意义 | 第8页 |
| ·国内外的研究状况 | 第8-9页 |
| ·储存测试技术的应用 | 第9-10页 |
| ·课题来源和论文安排 | 第10-12页 |
| ·课题来源 | 第10页 |
| ·论文安排 | 第10-12页 |
| 2 系统的总体设计 | 第12-20页 |
| ·多参数存储测试系统的设计要求和总体结构 | 第12-14页 |
| ·多参数存储测试系统的设计要求 | 第12页 |
| ·多参数存储测试系统的总体结构 | 第12-14页 |
| ·多参数存储系统的总体方案 | 第14-18页 |
| ·诸多被测物理参数分析 | 第14页 |
| ·多参数测试传感器 | 第14-17页 |
| ·多参数测试系统框图 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-20页 |
| 3 系统的硬件设计 | 第20-40页 |
| ·多参数传感器 | 第20-30页 |
| ·多参数传感器的特性 | 第20-21页 |
| ·MTx传感器的数据输出模式 | 第21-24页 |
| ·MTx传感器的数据接收 | 第24-27页 |
| ·MTx传感器的设置 | 第27-30页 |
| ·单片机系统 | 第30-36页 |
| ·单片机的要求及其选型 | 第30-33页 |
| ·单片机系统的搭建 | 第33-34页 |
| ·单片机与多参数传感器的通讯 | 第34-36页 |
| ·多参数存储测试系统的电源供给 | 第36-37页 |
| ·多参数存储测试系统硬件的制作 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 4 系统下位机软件的设计 | 第40-50页 |
| ·下位机软件的整体流程 | 第40-42页 |
| ·串行通讯接口的程序设计 | 第42-47页 |
| ·单片机串行接口程序设计 | 第44-45页 |
| ·模拟串行接口程序设计 | 第45-47页 |
| ·多参数传感器的设置程序 | 第47-48页 |
| ·系统程序的调试 | 第48页 |
| ·本章小结 | 第48-50页 |
| 5 系统的调试及总装 | 第50-56页 |
| ·印刷电路板及其下位机软件的调试 | 第50页 |
| ·多参数存储测试系统的总装 | 第50-52页 |
| ·多参数存储测试结果 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-56页 |
| 6 系统不足及展望 | 第56-58页 |
| ·多参数存储测试系统的不足 | 第56页 |
| ·课题展望 | 第56-58页 |
| 7 结束语 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 附录 | 第66-68页 |
| 附录一:下位机程序 | 第66-68页 |
| 附录二:在校学习期间发表的论文 | 第68页 |
