基于DES理论的数模混合电路故障诊断技术的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-20页 |
| ·引言 | 第12页 |
| ·电路故障诊断概述 | 第12-13页 |
| ·电子电路故障诊断技术 | 第13-18页 |
| ·数字电路故障诊断 | 第13-15页 |
| ·模拟电路故障诊断 | 第15-16页 |
| ·数模混合电路故障诊断 | 第16-18页 |
| ·混合信号电路测试面临的问题 | 第16页 |
| ·数模混合电路测试与故障诊断技术的现状 | 第16-18页 |
| ·本课题的研究目的与意义 | 第18-19页 |
| ·本文的主要内容及结构安排 | 第19-20页 |
| 第二章 DES理论及其在电路故障诊断中的应用 | 第20-32页 |
| ·DES理论简介 | 第20-21页 |
| ·离散事件 | 第21页 |
| ·离散事件系统 | 第21页 |
| ·基于DES理论的电路可测性分析原理 | 第21-25页 |
| ·用DES理论对电路进行数学建模 | 第22-23页 |
| ·电路的可测试性 | 第23-24页 |
| ·电路的最小测试集 | 第24页 |
| ·电路的故障隔离率 | 第24-25页 |
| ·DES理论在电路测试中的应用 | 第25-31页 |
| ·数字电路 | 第26-27页 |
| ·模拟电路 | 第27-29页 |
| ·数模混合电路 | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 基于DPSO算法的测试集优化 | 第32-41页 |
| ·测试集优化 | 第32-33页 |
| ·DPSO算法 | 第33-37页 |
| ·基本粒子群优化算法 | 第33-35页 |
| ·粒子群优化机理分析 | 第35-36页 |
| ·基于二进制编码的DPSO算法 | 第36-37页 |
| ·用DPSO算法实现电路测试集的最小化 | 第37-39页 |
| ·测试集优化过程的一些数学模型 | 第37-38页 |
| ·基于DPSO算法求取最小测试集的流程 | 第38-39页 |
| ·实验结果与分析 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 基于FTA的数模混合电路故障诊断 | 第41-53页 |
| ·FTA法概述 | 第41-43页 |
| ·FTA基本原理 | 第41-43页 |
| ·故障树构建的过程 | 第43页 |
| ·FTA在故障诊断中的应用 | 第43-45页 |
| ·DES与FTA相结合的故障诊断法 | 第45-46页 |
| ·数模混合电路故障诊断实例 | 第46-52页 |
| ·电路原理图 | 第46-47页 |
| ·仿真与建模 | 第47-49页 |
| ·可测性分析 | 第49-50页 |
| ·建立故障树 | 第50-51页 |
| ·故障诊断流程 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 数模混合电路虚拟测试系统 | 第53-63页 |
| ·虚拟仪器简介 | 第53-54页 |
| ·虚拟测试系统的设计 | 第54-59页 |
| ·测试系统硬件组成 | 第54-56页 |
| ·测试系统软件开发 | 第56-59页 |
| ·开发平台 | 第56-57页 |
| ·功能模块 | 第57-58页 |
| ·用户界面 | 第58-59页 |
| ·测试实验 | 第59-61页 |
| ·测试中存在的问题 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 总结与展望 | 第63-65页 |
| ·对本文的总结 | 第63-64页 |
| ·对未来的展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第70页 |
