基于ATmega16L的PTCR多参数测试仪

摘要	第1-5页
Abstract	第5-8页
1 绪论	第8-16页
·仪器仪表技术的国内外发展概况	第8-10页
·单片机的发展及在现代仪器仪表系统中的应用	第10-11页
·课题背景及研究的目的与意义	第11-15页
·研究生期间所做的工作及完成情况	第15-16页
2 多参数测试系统的总体方案设计	第16-21页
·热敏电阻主要性能参数及测试原理	第16-18页
·系统整体设计方案	第18-21页
3 系统硬件设计	第21-51页
·MCU 测试控制电路设计	第21-32页
·动作时间测试电路设计	第32-41页
·耐电压测试电路设计	第41-45页
·工频电流冲击测试电路设计	第45-46页
·环境温度监测电路设计	第46-51页
4 系统软件设计	第51-71页
·LCD 显示驱动程序设计	第51-55页
·EEPROM 存储程序设计	第55-58页
·动作时间测试程序设计	第58-65页
·耐电压测试程序设计	第65-66页
·工频电流冲击测试程序设计	第66-68页
·环境温度监测程序设计	第68-71页
5 系统调试与应用	第71-76页
·系统调试	第71-75页
·系统运行	第75-76页
6 全文总结	第76-78页
致谢	第78-79页
参考文献	第79-81页