基于AVR单片机的墨盒测试系统的研制
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| ·课题研究的背景和发展现状 | 第9-11页 |
| ·墨盒的现状及发展 | 第9-10页 |
| ·墨盒测试技术的现状及发展 | 第10页 |
| ·墨盒测试系统的应用领域 | 第10-11页 |
| ·本课题的主要工作 | 第11-12页 |
| 第二章 墨盒测试硬件系统电路设计方案 | 第12-39页 |
| ·墨盒结构介绍 | 第12-13页 |
| ·硬件系统整体设计方案 | 第13-14页 |
| ·微控制器的选择 | 第14-17页 |
| ·单片机概述 | 第14-15页 |
| ·ATmega8L 特性介绍 | 第15页 |
| ·AVR 针对C 语言的优化 | 第15-17页 |
| ·步进电机控制电路 | 第17-21页 |
| ·步进电机概述 | 第17-18页 |
| ·步进电机驱动芯片 | 第18页 |
| ·步进电机驱动器电路设计 | 第18-20页 |
| ·步进电机控制方式 | 第20-21页 |
| ·磁块与存储器感应电路 | 第21-28页 |
| ·磁块与存储器在墨盒中的作用 | 第21页 |
| ·干簧管 | 第21-25页 |
| ·光耦 | 第25-26页 |
| ·磁块与存储器感应电路设计 | 第26-28页 |
| ·“黑盒子”控制系统参数调整电路 | 第28-39页 |
| ·RS-232 通讯 | 第28-35页 |
| ·LCD 电路 | 第35-37页 |
| ·按键电路 | 第37-39页 |
| 第三章 墨盒测试系统软件的设计 | 第39-43页 |
| ·系统软件设计概述 | 第39-40页 |
| ·主程序设计 | 第40-41页 |
| ·控制参数计算 | 第41页 |
| ·主程序 | 第41页 |
| ·软件的可靠性设计 | 第41-43页 |
| ·采用模块化程序设计方法 | 第41-42页 |
| ·合理安排中断 | 第42页 |
| ·程序“跑飞”与“死锁”的解脱 | 第42-43页 |
| 第四章 墨盒测试系统调试与运行分析 | 第43-49页 |
| ·印刷电路板的抗干扰设计 | 第43-45页 |
| ·印刷电路板整体布局与连线 | 第43-44页 |
| ·电源和地线设计 | 第44-45页 |
| ·“去耦”电容的配置 | 第45页 |
| ·系统整体调试 | 第45-47页 |
| ·静态调试 | 第46页 |
| ·硬件调试 | 第46页 |
| ·软件调试 | 第46-47页 |
| ·整机调试 | 第47页 |
| ·样品实际运行效果及稳定性分析 | 第47-49页 |
| ·功能实现性 | 第47-48页 |
| ·参数可调性 | 第48页 |
| ·稳定性分析 | 第48-49页 |
| 第五章 总结与展望 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-52页 |
| 攻读学位期间公开发表的论文 | 第52-53页 |
| 附录1 实物照片 | 第53-54页 |
| 附录2 主程序 | 第54-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 详细摘要 | 第59-61页 |
