测量系统分析方法的研究及应用
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·测量系统分析简介 | 第7-9页 |
| ·测量数据的重要性 | 第7页 |
| ·测量数据质量 | 第7-8页 |
| ·实施测量系统分析的必要性 | 第8-9页 |
| ·测量系统分析技术在电子元器件生产线中的作用 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状综述 | 第10-11页 |
| ·论文主要内容及框架 | 第11-13页 |
| 第二章 测量系统分析的基本理论 | 第13-29页 |
| ·测量系统分析基本概念 | 第13-15页 |
| ·测量系统的变差 | 第15-16页 |
| ·测量系统的准确度 | 第15-16页 |
| ·测量系统的精密度 | 第16页 |
| ·测量系统分类 | 第16-17页 |
| ·计量型测量系统 | 第17页 |
| ·计数型测量系统 | 第17页 |
| ·计量型测量系统的分析方法 | 第17-22页 |
| ·线性和偏倚研究 | 第18-20页 |
| ·量具R&R 研究 | 第20-22页 |
| ·计数型测量系统的分析方法 | 第22-29页 |
| ·解析法 | 第22-24页 |
| ·属性一致性分析 | 第24-29页 |
| 第三章 某生产线测量系统的分析及初步评价 | 第29-41页 |
| ·测量系统分析的数据来源 | 第29-30页 |
| ·实施测量系统分析的数据采集方案 | 第30-32页 |
| ·计量型测量系统分析的数据采集方案 | 第30-31页 |
| ·计数型测量系统分析的数据采集方案 | 第31-32页 |
| ·计量型初始测量系统的评价分析 | 第32-35页 |
| ·线性和偏倚分析 | 第32-34页 |
| ·量具R&R 分析 | 第34-35页 |
| ·计数型初始测量系统的评价分析 | 第35-39页 |
| ·属性量具分析 | 第35-36页 |
| ·属性一致性分析 | 第36-39页 |
| ·小结 | 第39-41页 |
| 第四章 测量系统的改进标准及措施 | 第41-57页 |
| ·测量系统的改进标准 | 第42-46页 |
| ·计量型测量系统的改进标准 | 第42-44页 |
| ·计数型测量系统的改进标准 | 第44-46页 |
| ·测量系统的改进措施 | 第46-49页 |
| ·计量型测量系统的改进措施 | 第46-47页 |
| ·计数型测量系统的改进措施 | 第47-49页 |
| ·改进后测量系统的评价分析 | 第49-55页 |
| ·改进后计量型测量系统的评价分析 | 第49-51页 |
| ·改进后计数型测量系统的评价分析 | 第51-55页 |
| ·小结 | 第55-57页 |
| 第五章 结论与展望 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 攻读硕士期间研究成果 | 第65-66页 |
