| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 1 绪论 | 第7-13页 |
| ·研究背景与意义 | 第7-8页 |
| ·SCB火工品简介 | 第8-9页 |
| ·典型的SCB结构 | 第8-9页 |
| ·SCB火工品作用机理 | 第9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-12页 |
| ·国外研究现状 | 第9-11页 |
| ·国内研究现状 | 第11-12页 |
| ·本文的主要工作 | 第12-13页 |
| 2 半导体桥(SCB)等离子体温度测量 | 第13-26页 |
| ·瞬态等离子体的判断 | 第13-21页 |
| ·半导体桥发火装置 | 第13-14页 |
| ·等离子体温度的原子发射光谱双谱线法 | 第14-17页 |
| ·试验数据分析方法 | 第17-19页 |
| ·等离子体的三个判据 | 第19-20页 |
| ·半导体桥是否产生等离子体的判断 | 第20-21页 |
| ·光纤探头与SCB桥面距离对测温结果的影响研究 | 第21页 |
| ·相同电容下不同充电电压对SCB生成等离子体温度影响 | 第21-23页 |
| ·相同电压不同电容对SCB生成等离子体温度的影响 | 第23-24页 |
| ·小结 | 第24-26页 |
| 3 半导体桥等离子体点火研究 | 第26-46页 |
| ·样品制备 | 第26页 |
| ·试验装置 | 第26-27页 |
| ·实验数据分析方法 | 第27-29页 |
| ·半导体桥(SCB)点火试验 | 第29-45页 |
| ·22μF电容在不同充电电压时的点火时间测定 | 第29-33页 |
| ·47μF电容时的点火时间测定 | 第33-37页 |
| ·68μF电容时的点火时间测定 | 第37-41页 |
| ·不同电容点火时间比较 | 第41-43页 |
| ·不同装药压力点火时间比较 | 第43-44页 |
| ·不同粒径点火时间比较 | 第44-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 4 等离子体对药剂作用机理模型 | 第46-53页 |
| ·鞘层模型的提出 | 第46-50页 |
| ·鞘层存在的必然性 | 第46-47页 |
| ·离子鞘理论 | 第47-50页 |
| ·鞘层模型的初步建立 | 第50-52页 |
| ·药剂表面处的离子密度 | 第51页 |
| ·离子到达药剂表面处的能量通量 | 第51-52页 |
| ·模型分析 | 第52-53页 |
| ·从等离子体性质角度完善模型 | 第52页 |
| ·从药剂性质角度阐述模型 | 第52-53页 |
| 5 结论 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 附录A | 第58-62页 |
| 附录B | 第62-67页 |