铁电薄膜极化率和热释电性质的理论研究
| 第1章 绪论 | 第1-15页 |
| ·课题背景 | 第7-9页 |
| ·研究及应用现状 | 第9-12页 |
| ·铁电体的研究应用现状 | 第9-11页 |
| ·铁电薄膜的研究应用现状 | 第11-12页 |
| ·研究内容 | 第12-15页 |
| 第2章 研究的理论前提 | 第15-25页 |
| ·铁电体的基本理论 | 第15-19页 |
| ·热力学理论 | 第15-16页 |
| ·微观理论 | 第16-19页 |
| ·铁电薄膜研究的相关理论 | 第19-20页 |
| ·热释电效应 | 第20-23页 |
| ·铁电薄膜的极化率 | 第23-25页 |
| 第3章 模型与理论 | 第25-33页 |
| ·模型结构 | 第25-26页 |
| ·Gibbs自由能 | 第26-30页 |
| ·Euler方程 | 第30-33页 |
| 第4章 数值计算结果与讨论 | 第33-65页 |
| ·铁电薄膜极化强度的分布 | 第34-43页 |
| ·不同λ值对极化强度的影响 | 第34-36页 |
| ·不同ω值对极化强度的影响 | 第36-37页 |
| ·薄膜两侧不对称时,不同ω值对极化强度的影响 | 第37-39页 |
| ·取不同t 值对极化强度的影响 | 第39-40页 |
| ·外加正向恒定电场对自发极化强度的影响 | 第40-42页 |
| ·参数m的不同值对自发极化强度的影响 | 第42-43页 |
| ·温度对平均极化强度的影响 | 第43-49页 |
| ·无外加电场的情况下 | 第43-45页 |
| ·外加恒定电场的情况 | 第45-47页 |
| ·变化薄膜厚度时平均极化强度与温度的关系 | 第47-49页 |
| ·电滞回线 | 第49-51页 |
| ·非理想表面层对电滞回线的影响 | 第49-50页 |
| ·温度对电滞回线的影响 | 第50-51页 |
| ·铁电薄膜的热释电系数 | 第51-56页 |
| ·非理想表面层变化热释电系数与温度的关系 | 第51-53页 |
| ·外加恒定电场热释电系数与温度的关系 | 第53-55页 |
| ·薄膜厚度变化时热释电系数与温度的关系 | 第55-56页 |
| ·铁电薄膜的极化率 | 第56-63页 |
| ·非理想表面层对铁电薄膜极化率的分布的影响 | 第56-58页 |
| ·温度对铁电薄膜内极化率的分布的影响 | 第58-60页 |
| ·外加电场对铁电薄膜内极化率的分布的影响 | 第60-61页 |
| ·铁电薄膜的平均极化率与温度、外电场的关系 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 结论 | 第65-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 摘要 | 第71-73页 |
| Abstract | 第73-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 导师及作者简介 | 第78页 |
