| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| ·模拟和混合信号集成电路设计 | 第10-11页 |
| ·A/D转换器发展现状及论文的主要工作 | 第11-13页 |
| 第二章 模拟开关两步式A/D转换器总体设计 | 第13-28页 |
| ·主要性能指标 | 第13-15页 |
| ·静态性能 | 第13-14页 |
| ·动态性能 | 第14-15页 |
| ·A/D转换器的基本设计准则 | 第15-16页 |
| ·高速A/D转换器的介绍 | 第16-27页 |
| ·并行A/D转换器 | 第16-18页 |
| ·两步式比较器 | 第18-19页 |
| ·内插型A/D转换器 | 第19-21页 |
| ·折叠型A/D转换器 | 第21-22页 |
| ·Pipeline A/D转换器 | 第22-25页 |
| ·模拟开关二步法 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 采样/保持电路(SHA) | 第28-42页 |
| ·开关电容技术和开关电流技术 | 第28-29页 |
| ·Nyquist采样定理 | 第29页 |
| ·采样保持电路基本结构和工作原理 | 第29-30页 |
| ·开环和闭环结构 | 第30-31页 |
| ·一种应用于多级流水ADC的SHA | 第31-37页 |
| ·SHA的工作原理 | 第31-32页 |
| ·OTA电路 | 第32-34页 |
| ·辅助放大器的实现及作用 | 第34-35页 |
| ·电路性能仿真 | 第35-37页 |
| ·结论 | 第37页 |
| ·一种应用于两步式闪烁ADC的高速THA | 第37-41页 |
| ·电荷保持模式时的馈通效应 | 第39-40页 |
| ·THA的相关测试 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 高速电压比较器 | 第42-49页 |
| ·比较器的输入级结构 | 第42-44页 |
| ·主从式的锁存器结构及分析 | 第44-46页 |
| ·比较器电路实现及仿真 | 第46-48页 |
| ·判决临界条件下的仿真 | 第47页 |
| ·最高工作频率下的仿真 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 电阻开关网络 | 第49-60页 |
| ·电阻开关网络原理 | 第49-50页 |
| ·电阻不匹配性与模拟开关特性 | 第50-53页 |
| ·数字电路 | 第53-59页 |
| ·译码电路 | 第53-55页 |
| ·编码电路 | 第55-56页 |
| ·电流模—CMOS逻辑电平变换 | 第56-57页 |
| ·锁存器电路 | 第57-58页 |
| ·单级4-bit flash ADC输入-输出仿真 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第六章 部分版图设计考虑 | 第60-64页 |
| ·布局设计 | 第60页 |
| ·干扰和匹配度问题 | 第60-62页 |
| ·版图设计的实现 | 第62-64页 |
| 第七章 总结与展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 研究成果 | 第68-69页 |
| 附录 A | 第69-70页 |
| 附录 B | 第70-72页 |
| 附录 C | 第72页 |