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过程质量控制的性能评价与改进方法研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-11页
第一章 绪论第11-26页
   ·选题的背景与意义第11页
   ·过程与波动第11-13页
   ·统计过程控制(SPC)第13-14页
   ·控制图的性能度量第14-17页
     ·平均运行长度(ARL)第15-16页
     ·平均产品长度(APL)第16-17页
   ·过程监控技术的研究现状第17-24页
     ·正态过程监控第18-19页
     ·非正态过程监控第19页
     ·小波动过程监控第19-20页
     ·多元过程监控第20-23页
     ·自相关过程监控第23-24页
   ·论文的主要内容与结构安排第24-25页
     ·课题的提出第24页
     ·本文的研究内容及总体框架第24-25页
   ·本章小结第25-26页
第二章 正态过程质量控制的性能评价与改进第26-40页
   ·休哈特控制图的设计思想第26页
   ·用APL进行休哈特控制图的设计第26-28页
   ·设计方案的灵敏度分析第28-37页
     ·均值发生偏移时的灵敏度分析第28-32页
     ·方差发生变化的情况第32-34页
     ·均值和方差都发生改变的情况第34-37页
   ·设计效果比较第37-38页
   ·设计方法的使用第38-39页
   ·本章小结第39-40页
第三章 小波动过程质量控制的性能评价与改进第40-55页
   ·几种常用的小波动控制图第40-45页
     ·移动平均(MA)图第40-41页
     ·累积和(CUSUM)图第41-42页
     ·指数加权移动平均(EWMA)控制图第42-45页
   ·EWMA图的优化设计第45-53页
     ·平均产品长度的计算第45-47页
     ·最佳参数的选择第47-52页
     ·设计效果比较第52-53页
   ·改进的EWMA图的使用第53-54页
   ·本章小结第54-55页
第四章 非正态过程质量控制的性能评价与改进第55-71页
   ·赋权方差(WV)方法第55-57页
   ·非正态休哈特图的优化设计第57-65页
     ·控制方案的设计第57-60页
     ·灵敏度分析第60-63页
     ·偏态休哈特图最优设计与一般方法的比较第63-64页
     ·偏态情况最优设计的使用第64-65页
   ·非正态总体下的EWMA图第65-70页
     ·非正态EWMA图的构造第65页
     ·平均运行长度的计算方法第65-67页
     ·非正态EWMA图的设计方法第67-69页
     ·监控效果比较第69-70页
   ·本章小结第70-71页
第五章 多元过程质量控制的性能评价与改进第71-88页
   ·Hotelling~(T~2)图第71-72页
   ·多元小波动控制图第72-75页
     ·MCUSUM图第72-73页
     ·MEWMA图第73-75页
   ·基于多点报警的多元控制图第75-80页
     ·平均运行长度的计算第75-78页
     ·使用案例第78-80页
   ·效率分析与比较第80-81页
   ·基于虚拟元回归的失控信号诊断第81-87页
     ·二元质量控制的诊断方法第81-83页
     ·多元质量控制的诊断第83-84页
     ·一个二元质量控制的诊断算例第84-85页
     ·诊断方法比较第85-87页
   ·本章小结第87-88页
第六章 自回归过程质量控制的性能评价与改进第88-107页
   ·自相关过程的时间序列拟合模型第88-91页
     ·AR模型第88-89页
     ·MA模型第89-90页
     ·ARMA模型第90页
     ·模型识别和参数估计第90-91页
   ·用残差消除过程自相关第91-92页
   ·EWMA残差控制图第92-97页
     ·过程均值的EWMA残差图第93页
     ·过程方差的EWMA残差图第93页
     ·EWMA残差控制图的应用第93-95页
     ·几种残差控制图的比较第95-97页
   ·反馈过程调整第97页
   ·反馈调整后的过程质量监控第97-106页
     ·MMSE调整后的监控第98-99页
     ·PI调整后的监控第99-100页
     ·监控效率分析第100-102页
     ·算例第102-106页
   ·本章小结第106-107页
第七章 结束语第107-110页
   ·本文的内容总结第107-108页
   ·本文的创新之处第108-109页
   ·研究展望第109-110页
参考文献第110-119页
发表论文和参加科研情况说明第119-121页
致谢第121-122页

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