| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-20页 |
| 1．1 空间光调制器的定义及分类 | 第8-10页 |
| 1．2 空间光调制器的发展状况 | 第10-15页 |
| 1．2．1 液晶空间光调制器的发展概况 | 第10-12页 |
| 1．2．2 变形空间光调制器的发展概况 | 第12-13页 |
| 1．2．3 微通道板空间光调制器的发展概况 | 第13-14页 |
| 1．2．4 光折变空间光调制器的发展概况 | 第14-15页 |
| 1．3 液晶空间光调制器的应用 | 第15-17页 |
| 1．4 本文主要内容及工作重点 | 第17-20页 |
| 第二章 液晶空间光调制器 | 第20-39页 |
| 2．1 液晶及液晶的特性 | 第20-22页 |
| 2．1．1 液晶的物质状态及类别 | 第20-21页 |
| 2．1．2 液晶的介电各向异性、粘滞系数及电光效应 | 第21-22页 |
| 2．2 液晶的双折射和电控双折射效应 | 第22-25页 |
| 2．2．1 液晶中光的传播——液晶的双折射 | 第23-25页 |
| 2．2．2 电控双折射效应 | 第25页 |
| 2．3 向列相液晶连续体弹性形变理论及其应用 | 第25-33页 |
| 2．3．1 形变的描述及连续体弹性形变理论 | 第26-28页 |
| 2．3．2 连续体弹性理论的应用——沿面平行排列向列相液晶在外场作用下指向矢的变化 | 第28-33页 |
| 2．3．3 沿面平行排列向列相液晶在外场作用下的指向矢分布的模拟 | 第33页 |
| 2．4 光寻址平行排列向列相液晶空间光调制器(PAL-SLM)的结构特性及工作原理 | 第33-37页 |
| 2．4．1 PAL-SLM的结构 | 第34-36页 |
| 2．4．2 PAL-SLM的工作原理 | 第36-37页 |
| 2．5 电寻址可程控相位型液晶空间光调制器(PPM)的结构特性 | 第37-38页 |
| 2．6 本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 液晶空间光调制器在读出光正入射时的特性研究 | 第39-65页 |
| 3．1 研究光寻址平行排列向列相空间光调制器特性的两种光路 | 第39-41页 |
| 3．1．1 强度调制模式的光路 | 第39-40页 |
| 3．1．2 相位调制模式下的光路 | 第40-41页 |
| 3．2 时间响应特性及温度对其影响的研究 | 第41-57页 |
| 3．2．1 高速图像摄取装置 | 第41-42页 |
| 3．2．2 电寻址扭曲向列相空间光调制器的响应时间 | 第42-46页 |
| 3．2．3 光寻址平行排列向列相空间光调制器的响应时间 | 第46-51页 |
| 3．2．4 电寻址组合空间光调制器的响应时间 | 第51-57页 |
| 3．3 光寻址平行排列向列相空间光调制器(PAL-SLM)光强传输特性及相位调制特性的研究 | 第57-63页 |
| 3．3．1 电压强度对光强传输特性及相位调制特性的影响 | 第57-59页 |
| 3．3．2 电压频率对光强传输特性及相位调制特性的影响 | 第59-61页 |
| 3．3．3 PAL-SLM在不同相位调制深度时的输出特性 | 第61-63页 |
| 3．4 电寻址可程控相位型液晶空间光调制器(PPM)衍射效率的研究 | 第63-64页 |
| 3．5 本章小结 | 第64-65页 |
| 第四章 电寻址可程控相位型液晶空间光调制器(PPM)在读出光斜入射时的特性研究 | 第65-79页 |
| 4．1 PPM光传输特性和相位调制特性的研究 | 第65-68页 |
| 4．1．1 实验装置 | 第65-66页 |
| 4．1．2 实验结果及特性分析 | 第66-68页 |
| 4．2 PPM的衍射效率研究 | 第68-71页 |
| 4．2．1 实验装置 | 第68-69页 |
| 4．2．2 实验结果及特性分析 | 第69-71页 |
| 4．3 读出光斜入射时相位调制特性的理论探讨与数值模拟 | 第71-78页 |
| 4．3．1 模拟思路 | 第71-75页 |
| 4．3．2 模拟计算及结果 | 第75-78页 |
| 4．4 本章小结 | 第78-79页 |
| 第五章 光寻址平行排列向列相液晶空间光调制器的应用研究 | 第79-107页 |
| 5．1 全息的基本原理——产生、记录及再现 | 第79-81页 |
| 5．2 全息干涉测量 | 第81-82页 |
| 5．2．1 基本概念 | 第81-82页 |
| 5．2．2 全息干涉测量技术 | 第82页 |
| 5．3 时间平均全息干涉法 | 第82-86页 |
| 5．4 全息记录材料 | 第86-88页 |
| 5．4．1 记录材料在记录时的光学变化 | 第86-87页 |
| 5．4．2 记录分辨率 | 第87-88页 |
| 5．5 液晶空间光调制器的特性参数的测量实验 | 第88-92页 |
| 5．5．1 空间光调制器的空间分辨率 | 第88-90页 |
| 5．5．2 空间光调制器的灵敏度 | 第90页 |
| 5．5．3 空间光调制器的衍射效率 | 第90-91页 |
| 5．5．4 空间光调制器的相位调制特性 | 第91-92页 |
| 5．6 液晶空间光调制器时间平均全息干涉测量实验 | 第92-101页 |
| 5．6．1 液晶空间光调制器的选用 | 第92-93页 |
| 5．6．2 实验系统 | 第93-94页 |
| 5．6．3 测量时入射角的选择 | 第94-95页 |
| 5．6．4 实验系统的优化 | 第95-96页 |
| 5．6．5 实验结果及分析 | 第96-100页 |
| 5．6．6 用柱透镜进行准直的实验 | 第100-101页 |
| 5．7 液晶空间光调制器全息剪切干涉测量实验 | 第101-105页 |
| 5．7．1 全息剪切干涉测量法 | 第102-103页 |
| 5．7．2 实验系统 | 第103-104页 |
| 5．7．3 实验结果及分析 | 第104-105页 |
| 5．8 本章小结 | 第105-107页 |
| 第六章 总结与展望 | 第107-110页 |
| 参考资料 | 第110-119页 |
| 攻博期间发表的论文 | 第119-120页 |
| 致谢 | 第120页 |
