调制域分析仪关键技术研究
| 第一章 序言 | 第1-12页 |
| ·调制域的概念 | 第8页 |
| ·调制域分析仪的应用领域及其重要性 | 第8-9页 |
| ·国内外动态 | 第9-12页 |
| 第二章 调制域分析仪关键技术 | 第12-28页 |
| ·调制域分析仪测量模式 | 第12-13页 |
| ·调制域分析仪测量原理 | 第13-22页 |
| ·频率--时间特性测量 | 第13-19页 |
| ·普通计数器测频原理 | 第14-19页 |
| ·时间间隔-时间特性测量 | 第19-20页 |
| ·相位-时间特性测量 | 第20-22页 |
| ·调制域分析仪的关键技术 | 第22-28页 |
| ·零空闲时间计数技术 | 第22-24页 |
| ·正反双相时基计数 | 第24-26页 |
| ·高速采样技术 | 第26-28页 |
| 第三章 调制域系统硬件设计 | 第28-34页 |
| ·主要技术性能指标 | 第28页 |
| ·系统硬件设计方案 | 第28-30页 |
| ·系统指标论证 | 第30-34页 |
| ·时间分辨率 | 第30页 |
| ·频率分辨率 | 第30-31页 |
| ·系统连续测量时间 | 第31页 |
| ·系统测量范围 | 第31-33页 |
| ·系统最大连续采样速率 | 第33-34页 |
| 第四章 ECL高速数字电路测量板 | 第34-42页 |
| ·设计方案 | 第34-39页 |
| ·硬件实现 | 第39-42页 |
| ·ECL器件 | 第39-40页 |
| ·传输线的几种类型 | 第40-41页 |
| ·端接传输线 | 第41页 |
| ·印制板布线 | 第41-42页 |
| 第五章 可编程测量、控制、RAM电路板 | 第42-58页 |
| ·Lattice isp MACH 4256V | 第42-47页 |
| ·4256V特点和性能 | 第43-44页 |
| ·4256V结构 | 第44-46页 |
| ·4256V时序模型 | 第46-47页 |
| ·Lattice开发工具 | 第47-48页 |
| ·可编程测量、控制、RAM板的设计方案 | 第48-50页 |
| ·模块构成、功能及其仿真 | 第50-58页 |
| ·事件计数器 | 第50-51页 |
| ·时间计数器 | 第51-52页 |
| ·地址计数器 | 第52-54页 |
| ·存储器 | 第54页 |
| ·数据读取控制器 | 第54页 |
| ·采样信号发生器 | 第54-58页 |
| 第六章 调试、测量结果和误差分析 | 第58-68页 |
| ·调试 | 第58-59页 |
| ·调试系统组成 | 第58页 |
| ·调试方法 | 第58-59页 |
| ·测试结果 | 第59-65页 |
| ·连续频率测量 | 第59-62页 |
| ·射频脉冲频率测量 | 第62-63页 |
| ·时间间隔测量 | 第63-64页 |
| ·包络参数测量 | 第64-65页 |
| ·系统测试误差分析 | 第65-67页 |
| ·计数器量化误差 | 第65页 |
| ·触发噪声引入的门控误差 | 第65页 |
| ·实际电路带来的误差 | 第65-66页 |
| ·测量结果分析 | 第66-67页 |
| ·进一步完善和提高 | 第67-68页 |
| 参考书目 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
