前言 | 第1-14页 |
·原回转式密封环试验台设备及控制系统的简单介绍 | 第9-10页 |
·原系统的功能概述 | 第9页 |
·原系统的技术参数 | 第9-10页 |
·原系统的控制系统 | 第10页 |
·国内外控制技术及自动化水平发展概况 | 第10-12页 |
·选题背景及意义 | 第12页 |
·课题的确定 | 第12页 |
·课题研究内容和目的 | 第12-13页 |
·课题研究的主要内容 | 第12-13页 |
·课题研究的目的 | 第13页 |
·课题研究方法和技术路线 | 第13-14页 |
2 回转式密封环控制系统的总体方案设计 | 第14-21页 |
·回转式密封环的工况 | 第14页 |
·控制系统的要求及方案的确定 | 第14页 |
·控制参量的控制方案 | 第14-19页 |
·油室温度 | 第14-15页 |
·油室的压力 | 第15页 |
·电机轴的转速 | 第15-19页 |
·变频器的基本电路 | 第16-17页 |
·转速控制的控制结构 | 第17页 |
·转速的控制过程 | 第17-19页 |
·密封环性能检测时间的控制 | 第19页 |
·回转式密封环控制系统的总体方案 | 第19-21页 |
3 硬件设计 | 第21-44页 |
·上位机系统的硬件设计 | 第21-28页 |
·上位机系统的总线技术 | 第21-23页 |
·概述 | 第21-23页 |
·回转式密封环试验台上位机系统采用的总线技术 | 第23页 |
·上位机系统的插卡技术 | 第23-26页 |
·HY-6070的性能 | 第23页 |
·HY-6070的应用 | 第23-24页 |
·HY-6070板主要元件位置图,信号输入/输出插座和选择开关定义 | 第24-26页 |
·主要元件位置图(如图3.3) | 第24页 |
·信号输入/输出插座定义 | 第24-25页 |
·模拟输入电压范围选择 | 第25页 |
·模拟输出电压范围选择 | 第25-26页 |
·#0计数器外部/内部时钟信号选择JP8 | 第26页 |
·中断申请级别选择JP7(例:选择IRQ2) | 第26页 |
·调整电位器定义 | 第26页 |
·板基地址选择开关DIP | 第26页 |
·上位机系统的控制关系 | 第26-28页 |
·上位机系统控制关系 | 第27页 |
·上位机系统的HY-6070通用集成板通道分配 | 第27-28页 |
·下位机系统 | 第28-38页 |
·概述 | 第28-29页 |
·下位机系统的设计方案 | 第29页 |
·下位机系统的主要的硬件设备 | 第29-38页 |
·下位机硬件系统设计 | 第30-38页 |
·CPU单元(主板) | 第30-32页 |
·开关量输入及脉冲量输入单元 | 第32-33页 |
·开关量输出单元 | 第33页 |
·模拟量输入/输出单元 | 第33-34页 |
·拨号系统 | 第34-35页 |
·底板 | 第35-36页 |
·底板的结构 | 第35-36页 |
·底板上的总线协议 | 第36页 |
·串行通讯(实现上、下位机的通讯) | 第36-38页 |
·下位机系统通道分配表及各功能单元地址表 | 第38-41页 |
·回转式密封环试验台控制系统的外围设备 | 第41-44页 |
·温度传感器 | 第41页 |
·压力传感器(共2台) | 第41-42页 |
·转速传感器(共2台) | 第42页 |
·变频器 | 第42-44页 |
4 软件设计 | 第44-56页 |
·回转式密封环试验台控制系统的上位机系统软件设计 | 第44-52页 |
·界面的设计 | 第44-47页 |
·主界面的设计 | 第44-45页 |
·参数设定界面的设计 | 第45-46页 |
·数据查询界面的设计 | 第46-47页 |
·数据处理界面的设计 | 第47页 |
·上位机系统的几个主要的功能程序设计 | 第47-52页 |
·数据采集程序设计 | 第48-49页 |
·实时数据显示及处理程序设计 | 第49-51页 |
·设备驱动程序设计 | 第51-52页 |
·下位机系统的软件设计 | 第52页 |
·上、下位机通讯的软件设计 | 第52-56页 |
·上位机通讯的软件设计 | 第52-54页 |
·下位机通讯的软件设计 | 第54-56页 |
5 几个关键问题的处理 | 第56-57页 |
·硬件上的关键问题处理 | 第56页 |
·软件上的关键问题处理 | 第56-57页 |
·数据采集的交互过程 | 第56页 |
·压力的实时曲线的处理 | 第56-57页 |
6 结论与建议 | 第57-58页 |
·结论 | 第57页 |
·建议 | 第57-58页 |
参考文献 | 第58-59页 |