| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 1 绪论 | 第12-28页 |
| ·三代像增强器的发展概况 | 第12-19页 |
| ·三代像增强器的基本原理 | 第12-14页 |
| ·三代像增强器的主要特性与参数 | 第14-17页 |
| ·三代像增强器的国内外发展现状 | 第17-19页 |
| ·国内、外微光像增强器的参数测试技术发展对比与分析 | 第19-20页 |
| ·荧光屏性能测试的历史背景 | 第20-26页 |
| ·发光亮度的测量 | 第20-22页 |
| ·发光效率的测量 | 第22-25页 |
| ·余辉的测试 | 第25-26页 |
| ·本文的研究背景和意义 | 第26-27页 |
| ·本文的主要工作 | 第27-28页 |
| 2 荧光屏发光特性研究 | 第28-42页 |
| ·固体发光及表征发光特性的物理量 | 第28-33页 |
| ·固体发光 | 第28页 |
| ·表征固体发光特性的物理量 | 第28-33页 |
| ·阴极射线致发光 | 第33-41页 |
| ·二次电子散射 | 第34-37页 |
| ·阴极射线致发光的特性 | 第37-41页 |
| ·结论 | 第41-42页 |
| 3 像增强器荧光屏综合参数测试系统的研究 | 第42-62页 |
| ·荧光屏综合参数测试系统的设计理论 | 第43-49页 |
| ·荧光屏综合参数测试系统的测试原理 | 第43-44页 |
| ·荧光屏综合参数测试系统的理论设计 | 第44-46页 |
| ·表征荧光屏性能的主要参数的定义及测试方法 | 第46-49页 |
| ·四种参数测试的结构设计及保障 | 第49-52页 |
| ·荧光屏均匀性和发光亮度测试的结构设计及保障 | 第49-50页 |
| ·荧光屏发光效率测试的结构设计及保障 | 第50-51页 |
| ·荧光屏发光余辉测试的结构设计及保障 | 第51-52页 |
| ·荧光屏综合参数测试系统总成 | 第52-61页 |
| ·荧光屏综合参数测试系统的组成 | 第52-57页 |
| ·荧光屏综合参数测试系统的控制模块 | 第57-61页 |
| ·荧光屏综合参数测试系统性能指标 | 第61页 |
| ·结论 | 第61-62页 |
| 4 热电子面发射源的研究 | 第62-86页 |
| ·热电子面发射源的理论分析 | 第62-82页 |
| ·热电子面发射源的电子发射理论及灯丝造型设计 | 第62-70页 |
| ·热电子面发射源电场分布和电子轨迹计算 | 第70-82页 |
| ·热电子面发射源的结构设计 | 第82-85页 |
| ·结论 | 第85-86页 |
| 5 像增强器荧光屏综合参数测试系统的调试 | 第86-99页 |
| ·真空系统操作及性能分析 | 第86-87页 |
| ·抽真空的操作步骤 | 第86页 |
| ·真空系统性能分析 | 第86-87页 |
| ·热电子面发射源调试试验 | 第87-91页 |
| ·热电子面发射源的性能试验及分析 | 第87-90页 |
| ·热电子面发射源与其它热热电子发射源电子发射源的比较 | 第90-91页 |
| ·荧光屏亮度均匀性与热电子面发射源电压电流的匹配试验 | 第91-96页 |
| ·荧光屏亮度均匀性与热电子面发射源电压的匹配试验 | 第91-92页 |
| ·荧光屏亮度均匀性与热电子面发射源电流的匹配试验 | 第92-96页 |
| ·测试环境的影响试验 | 第96-98页 |
| ·测试环境对发光效率测试的影响及修正方法 | 第96-97页 |
| ·荧光屏亮度与CCD的最佳匹配参数的确定 | 第97-98页 |
| ·结论 | 第98-99页 |
| 6 荧光屏测试结果及与像增强器参数比较分析 | 第99-103页 |
| ·荧光屏均匀性的测试结果与分析 | 第99-101页 |
| ·荧光屏发光效率的测试结果与分析 | 第101页 |
| ·荧光屏发光余辉的测试结果与分析 | 第101-102页 |
| ·结论 | 第102-103页 |
| 7 结束语 | 第103-106页 |
| ·本文的工作总结 | 第103-104页 |
| ·本文的创新点 | 第104-105页 |
| ·有待进一步研究的问题 | 第105-106页 |
| 致谢 | 第106-107页 |
| 参考文献 | 第107-114页 |
| 附录 | 第114-115页 |
