上海光源储存环束流损失监测系统研制与应用
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·论文工作的背景 | 第11-16页 |
| ·论文工作的内容 | 第16-17页 |
| ·论文工作的意义 | 第17-18页 |
| 第2章 束流损失的机理 | 第18-25页 |
| ·束流损失的类型 | 第18页 |
| ·束流寿命的物理分析 | 第18-22页 |
| ·量子寿命 | 第19页 |
| ·托歇克寿命 | 第19-20页 |
| ·真空寿命 | 第20-22页 |
| ·基于Lattice 结构对束流轨迹的计算 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 束流损失的探测 | 第25-42页 |
| ·束流损失探测对象——簇射电子 | 第25页 |
| ·束流损失探测器选型 | 第25-33页 |
| ·长电离室 | 第26-27页 |
| ·短电离室 | 第27页 |
| ·闪烁计数器 | 第27-28页 |
| ·PIN 型硅光电二极管探测器 | 第28页 |
| ·CVD 金刚石膜探测器 | 第28-29页 |
| ·双PIN 光电二极管探测器 | 第29-31页 |
| ·探测器选型结果 | 第31-33页 |
| ·簇射过程计算模拟 | 第33-37页 |
| ·计算软件 | 第33-34页 |
| ·计算条件 | 第34-36页 |
| ·计算结果 | 第36-37页 |
| ·探测位置与安装方式 | 第37-42页 |
| ·探测位置选择 | 第37-38页 |
| ·移动监测点 | 第38-39页 |
| ·探测器的安装方式 | 第39-40页 |
| ·探测器的工程安装 | 第40-42页 |
| 第4章 系统整体架构 | 第42-53页 |
| ·数据采集系统的架构设计 | 第42-45页 |
| ·分布式系统通信机制 | 第45-53页 |
| ·轮询应答机制 | 第46页 |
| ·基于时间戳的数据采集机制 | 第46-48页 |
| ·BLM 系统的时钟同步机制 | 第48-50页 |
| ·BLM 系统的通讯协议 | 第50-53页 |
| 第5章 数据采集系统 | 第53-88页 |
| ·下位机硬件设计 | 第53-65页 |
| ·下位机功能需求 | 第53页 |
| ·下位机硬件结构 | 第53-55页 |
| ·核心小板设计 | 第55-63页 |
| ·底层母板设计 | 第63-64页 |
| ·探测器接口板设计 | 第64-65页 |
| ·下位机软件设计 | 第65-81页 |
| ·FPGA 的HDL 程序设计 | 第66-71页 |
| ·微处理器程序设计 | 第71-81页 |
| ·上位机软件设计 | 第81-83页 |
| ·系统功能验证 | 第83-88页 |
| ·输入频率验证 | 第83-84页 |
| ·合肥光源样机实验 | 第84-85页 |
| ·与上海光源增强器BLM 系统的比对实验 | 第85-88页 |
| 第6章 系统应用分析 | 第88-97页 |
| ·BLM 系统在储存环正常运行时的监测数据 | 第88-89页 |
| ·BLM 系统对一次完整的储存环工作过程的监测 | 第89-90页 |
| ·BLM 系统在储存环粗调过程中的应用 | 第90-91页 |
| ·BLM 系统数据对储存环参数优化效果的体现 | 第91-93页 |
| ·BLM 系统对机器故障的监测 | 第93页 |
| ·BLM 系统对辐射防护的帮助 | 第93-96页 |
| ·本章小结 | 第96-97页 |
| 第7章 总结 | 第97-100页 |
| ·主要成果和创新 | 第97-98页 |
| ·后续工作展望 | 第98-100页 |
| 参考文献 | 第100-103页 |
| 致谢 | 第103-104页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第104-105页 |
