| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.1.1 课题研究的背景 | 第9-10页 |
| 1.1.2 课题研究的意义 | 第10页 |
| 1.2 液晶屏缺陷检测系统国内外研究现状 | 第10-16页 |
| 1.2.1 液晶屏视觉检测系统研究发展现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 液晶屏灰阶显示画面图像处理研究现状 | 第11-16页 |
| 1.3 课题研究目标及主要内容 | 第16-17页 |
| 第2章 系统的硬件平台设计 | 第17-28页 |
| 2.1 硬件系统的总体构成 | 第17-19页 |
| 2.2 STM32嵌入式控制板 | 第19-25页 |
| 2.2.1 主控芯片的简介与选型 | 第19-20页 |
| 2.2.2 电源电路设计 | 第20页 |
| 2.2.3 通讯接口设计 | 第20-22页 |
| 2.2.4 系统时钟电路 | 第22页 |
| 2.2.5 JTAG调试电路设计 | 第22页 |
| 2.2.6 限位开关电路 | 第22-23页 |
| 2.2.7 电机驱动电路 | 第23-25页 |
| 2.2.8 脉冲反馈电路 | 第25页 |
| 2.3 相机的选型及控制方式 | 第25-27页 |
| 2.3.1 扫描方式和光电传感器 | 第25-26页 |
| 2.3.2 相机选择及扫描模式控制 | 第26-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 图像预处理研究 | 第28-54页 |
| 3.1 几何校正 | 第28-37页 |
| 3.1.1 图像二值化 | 第29-30页 |
| 3.1.2 数学形态学处理 | 第30-32页 |
| 3.1.3 最大连通域边界 | 第32-33页 |
| 3.1.4 Hough直线拟合 | 第33-34页 |
| 3.1.5 透视变换 | 第34-36页 |
| 3.1.6 几何校正实验 | 第36-37页 |
| 3.2 摩尔条纹去除 | 第37-49页 |
| 3.2.1 奇异值分解法 | 第37-39页 |
| 3.2.2 傅立叶变换法 | 第39-40页 |
| 3.2.3 Gabor小波变换法 | 第40-41页 |
| 3.2.4 频率域自适应滤波实验 | 第41-49页 |
| 3.3 背景光照不均匀去除 | 第49-53页 |
| 3.3.1 基于亮度均衡法去除光照不均匀 | 第49-51页 |
| 3.3.2 背景光照不均匀去除实验 | 第51-53页 |
| 3.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第4章 点、斑块与线缺陷检测 | 第54-69页 |
| 4.1 点缺陷检测 | 第54-60页 |
| 4.1.1 定值阈值分割 | 第54-55页 |
| 4.1.2 拉普拉斯锐化 | 第55页 |
| 4.1.3 点缺陷检测实验及分析 | 第55-60页 |
| 4.2 斑块缺陷检测及分析 | 第60-65页 |
| 4.3 线缺陷检测及分析 | 第65-68页 |
| 4.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第5章 Mura缺陷的检测与评定 | 第69-83页 |
| 5.1 人眼视觉特性 | 第69-72页 |
| 5.1.1 视觉非线性 | 第69页 |
| 5.1.2 视觉掩盖性 | 第69-70页 |
| 5.1.3 对比度敏感函数 | 第70-72页 |
| 5.2 对比度敏感函数Mura缺陷搜寻 | 第72-73页 |
| 5.3 主动轮廓模型和水平集方法 | 第73-78页 |
| 5.3.1 主动轮廓模型 | 第73-77页 |
| 5.3.2 水平集方法 | 第77-78页 |
| 5.4 基于区域主动轮廓模型和水平集方法的Mura缺陷分割实验 | 第78-81页 |
| 5.5 基于SEMI标准的缺陷量化评定 | 第81-82页 |
| 5.6 本章小结 | 第82-83页 |
| 结论 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-89页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第89-91页 |
| 致谢 | 第91页 |