摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-22页 |
1.1 研究的背景与意义 | 第11-19页 |
1.1.1 大型高功率激光装置的负载能力 | 第11-15页 |
1.1.2 熔石英元件的辐照损伤 | 第15-18页 |
1.1.3 熔石英元件的损伤修复 | 第18-19页 |
1.2 熔石英元件辐照损伤及修复的研究现状 | 第19-20页 |
1.2.1 熔石英元件辐照损伤的研究进展 | 第19-20页 |
1.2.2 熔石英元件损伤修复的研究进展 | 第20页 |
1.3 论文的框架与内容 | 第20-22页 |
第二章 金属杂质诱导熔石英元件辐照损伤的理论分析 | 第22-35页 |
2.1 引言 | 第22页 |
2.2 光学元件的损伤 | 第22-24页 |
2.2.1 损伤的定义 | 第22-23页 |
2.2.2 损伤的判定 | 第23-24页 |
2.3 光学元件的损伤阈值 | 第24-28页 |
2.3.1 损伤阈值的定义 | 第24-26页 |
2.3.2 损伤阈值的测量 | 第26-28页 |
2.4 光学元件的杂质 | 第28-29页 |
2.4.1 杂质的定义 | 第28页 |
2.4.2 杂质的分类 | 第28-29页 |
2.5 金属杂质诱导熔石英元件辐照损伤的物理过程 | 第29-30页 |
2.5.1 本征损伤 | 第29-30页 |
2.5.2 杂质损伤 | 第30页 |
2.6 金属杂质诱导熔石英元件辐照损伤的物理模型 | 第30-34页 |
2.6.1 颗粒状金属杂质 | 第30-32页 |
2.6.2 薄膜状金属杂质 | 第32-34页 |
2.7 小结 | 第34-35页 |
第三章 金属杂质诱导熔石英元件辐照损伤的数值模拟 | 第35-52页 |
3.1 引言 | 第35页 |
3.2 金属杂质诱导熔石英元件辐照损伤的数学建模 | 第35-37页 |
3.2.1 热吸收模型 | 第35-36页 |
3.2.2 热应力模型 | 第36-37页 |
3.3 金属杂质诱导熔石英元件辐照损伤的几何建模 | 第37-39页 |
3.3.1 金属杂质的几何结构 | 第37-38页 |
3.3.2 金属杂质的几何结构网格化 | 第38-39页 |
3.4 金属杂质诱导熔石英元件辐照损伤的数值分析 | 第39-51页 |
3.4.1 熔石英元件辐照损伤的温度场 | 第39-43页 |
3.4.2 熔石英元件辐照损伤的应力场 | 第43-47页 |
3.4.3 金属杂质形状对熔石英元件诱导损伤的影响 | 第47-51页 |
3.5 小结 | 第51-52页 |
第四章 CO_2激光辐照熔石英元件损伤修复的理论分析 | 第52-66页 |
4.1 引言 | 第52页 |
4.2 CO_2激光修复技术简介 | 第52-54页 |
4.2.1 修复的对象 | 第52-53页 |
4.2.2 修复的类型 | 第53-54页 |
4.3 CO_2激光修复的负面因素及考核标准 | 第54-56页 |
4.3.1 负面因素 | 第54-56页 |
4.3.2 考核标准 | 第56页 |
4.4 熔石英的特性 | 第56-60页 |
4.4.1 结构特性 | 第56-58页 |
4.4.2 化学特性 | 第58-60页 |
4.5 CO_2激光辐照熔石英元件损伤修复的物理过程 | 第60-62页 |
4.5.1 光学材料对激光能量的吸收 | 第60页 |
4.5.2 熔石英元件损伤修复的过程 | 第60-62页 |
4.6 CO_2激光辐照熔石英元件损伤修复的物理模型 | 第62-65页 |
4.6.1 激光辐照效应的模型 | 第62-63页 |
4.6.2 激光辐照能量的吸收 | 第63-65页 |
4.7 小结 | 第65-66页 |
第五章 CO_2激光辐照熔石英元件损伤修复的数值模拟 | 第66-87页 |
5.1 引言 | 第66页 |
5.2 CO_2激光辐照熔石英元件损伤修复的数学建模 | 第66-68页 |
5.2.1 温度场模型 | 第66-67页 |
5.2.2 熔融流模型 | 第67-68页 |
5.3 CO_2激光辐照熔石英元件损伤修复的几何建模 | 第68-71页 |
5.3.1 损伤坑的几何结构 | 第68-69页 |
5.3.2 损伤坑的几何结构网格化 | 第69-71页 |
5.4 CO_2激光辐照熔石英元件损伤修复的数值分析 | 第71-86页 |
5.4.1 熔石英元件损伤修复的温度场 | 第71-76页 |
5.4.2 熔石英元件损伤修复的应力场 | 第76-81页 |
5.4.3 CO_2激光参数对损伤修复的影响 | 第81-86页 |
5.5 小结 | 第86-87页 |
第六章 总结与展望 | 第87-89页 |
6.1 总结 | 第87-88页 |
6.2 展望 | 第88-89页 |
致谢 | 第89-90页 |
参考文献 | 第90-94页 |