强冲击载荷下弹载测试仪可靠性与寿命评估研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
1 绪论 | 第10-17页 |
1.1 本文研究背景及意义 | 第10-11页 |
1.1.1 研究背景 | 第10页 |
1.1.2 研究意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-15页 |
1.2.1 弹载测试仪国内外研究现状 | 第11-13页 |
1.2.2 可靠性与寿命评估国内外研究现状 | 第13-15页 |
1.3 研究内容及章节安排 | 第15-17页 |
1.3.1 主要研究内容 | 第15页 |
1.3.2 论文章节安排 | 第15-17页 |
2 弹载测试仪的失效机理及防护 | 第17-27页 |
2.1 引言 | 第17页 |
2.2 弹载测试仪失效机理 | 第17-21页 |
2.2.1 高幅值应力波与惯性力 | 第17-18页 |
2.2.2 测试仪重复使用造成累积损伤 | 第18-20页 |
2.2.3 碰撞挤压变形 | 第20页 |
2.2.4 灌封工艺缺陷 | 第20-21页 |
2.3 弹载测试仪缓冲防护机理 | 第21-24页 |
2.3.1 应力波的隔离 | 第21-22页 |
2.3.2 缓冲结构设计 | 第22-23页 |
2.3.3 结构变形吸能 | 第23页 |
2.3.4 真空灌封 | 第23-24页 |
2.4 弹载测试仪防护结构设计 | 第24-26页 |
2.4.1 测试仪构成 | 第24-25页 |
2.4.2 测试仪结构 | 第25-26页 |
2.5 本章小结 | 第26-27页 |
3 冲击载荷作用下测试仪应力分布规律 | 第27-42页 |
3.1 引言 | 第27页 |
3.2 材料本构模型分析 | 第27-29页 |
3.2.1 弹塑性材料 | 第27-28页 |
3.2.2 超弹性材料 | 第28页 |
3.2.3 粘弹性材料 | 第28-29页 |
3.3 冲击动力学响应问题分析方法 | 第29-31页 |
3.3.1 冲击的基本概念 | 第29-30页 |
3.3.2 冲击响应问题分析方法 | 第30-31页 |
3.4 建模仿真 | 第31-37页 |
3.4.1 ANSYS/LS-DYNA概述 | 第31-32页 |
3.4.2 仿真模型建立 | 第32-33页 |
3.4.3 材料模型参数选取 | 第33-35页 |
3.4.4 模型网格划分 | 第35-36页 |
3.4.5 施加约束及载荷 | 第36-37页 |
3.4.6 计算求解 | 第37页 |
3.5 冲击载荷作用下测试仪应力分布规律 | 第37-41页 |
3.5.1 测试仪应力响应 | 第37-39页 |
3.5.2 不同位置等效应力 | 第39-40页 |
3.5.3 应力分布规律 | 第40-41页 |
3.6 本章小结 | 第41-42页 |
4 弹载测试仪抗冲击可靠性验证 | 第42-50页 |
4.1 引言 | 第42页 |
4.2 设计试验 | 第42-47页 |
4.2.1 试验方案 | 第42-43页 |
4.2.2 试验装置及仪器 | 第43-47页 |
4.3 试验及结果分析 | 第47-49页 |
4.3.1 测试步骤 | 第47-48页 |
4.3.2 测试结果分析 | 第48-49页 |
4.4 本章小结 | 第49-50页 |
5 测试仪内部应力累积损伤对寿命的影响分析 | 第50-66页 |
5.1 引言 | 第50页 |
5.2 测试仪重复使用寿命预测方法 | 第50-54页 |
5.2.1 测试仪失效判定依据 | 第50-51页 |
5.2.2 累积损伤计算方法 | 第51-53页 |
5.2.3 测试仪重复使用寿命预测步骤 | 第53-54页 |
5.3 测试仪一次寿命抗冲击极限 | 第54-56页 |
5.4 测试仪重复使用累积损伤数值模拟 | 第56-63页 |
5.4.1 恒定载荷叠加冲击数值模拟 | 第57-62页 |
5.4.2 递增载荷叠加冲击数值模拟 | 第62-63页 |
5.4.3 递减载荷叠加冲击数值模拟 | 第63页 |
5.5 测试仪寿命预测 | 第63-65页 |
5.5.1 冲击响应结果汇总 | 第63-64页 |
5.5.2 寿命预测直方图 | 第64-65页 |
5.6 本章小结 | 第65-66页 |
6 总结与展望 | 第66-68页 |
6.1 全文总结 | 第66页 |
6.2 本文的创新点 | 第66-67页 |
6.3 本文的不足与课题展望 | 第67-68页 |
6.3.1 本文的不足之处 | 第67页 |
6.3.2 进一步工作与展望 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-73页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及参研的课题研究 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |