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某型信息处理设备的可测试分析与测试策略设计

致谢第5-6页
摘要第6-7页
ABSTRACT第7-8页
1 引言第12-20页
    1.1 研究背景和意义第12-13页
    1.2 国内外研究现状第13-17页
        1.2.1 测试性建模方法研究现状第13-15页
        1.2.2 系统测试策略优化方法研究现状第15-17页
        1.2.3 现有研究方法的不足第17页
    1.3 研究内容及结构安排第17-20页
2 信息处理系统多信号流图模型的建立第20-28页
    2.1 信息处理系统的组成和功能分析第20-22页
    2.2 信息处理系统测试性建模分析第22-26页
    2.3 信息处理系统的多信号流图模型的建立第26-27页
    2.4 本章小结第27-28页
3 信息处理系统故障-测试相关矩阵的计算与分析第28-40页
    3.1 系统完全故障相关矩阵的计算第29-32页
        3.1.1 邻接矩阵的计算第29页
        3.1.2 可达性矩阵的计算第29-31页
        3.1.3 完全故障相关矩阵的计算第31-32页
    3.2 系统功能故障相关矩阵的计算第32-33页
    3.3 系统故障-测试相关矩阵的计算第33-35页
    3.4 信息处理系统的测试性分析第35-38页
        3.4.1 单故障特征分析第35页
        3.4.2 多故障特征分析第35-37页
        3.4.3 测试性参数分析第37-38页
    3.5 本章小结第38-40页
4 信息处理系统测试策略优化设计第40-68页
    4.1 测试策略优化问题概述第40-41页
    4.2 基于遗传算法测试项选择问题研究第41-53页
        4.2.1 解集的初始化第44页
        4.2.2 适应度函数的设计第44-47页
        4.2.3 优良解的选择第47页
        4.2.4 基因序列的交叉第47-48页
        4.2.5 基因序列的变异第48-49页
        4.2.6 基于遗传算法测试项选择问题验证第49-53页
    4.3 基于DPSO-AO~*算法测试序列优化问题研究第53-67页
        4.3.1 测试序列优化问题的数学模型第55-57页
        4.3.2 基于AO~*算法系统扩展节点的选择第57-61页
        4.3.3 基于DPSO算法扩展测试集的优选第61-67页
    4.4 本章小结第67-68页
5 测试系统开发和测试性验证第68-80页
    5.1 硬件系统搭建第68-69页
    5.2 系统测试软件开发第69-72页
    5.3 故障注入技术研究第72-73页
        5.3.1 故障注入技术原理第72页
        5.3.2 故障注入技术方法第72-73页
    5.4 测试性验证第73-79页
    5.5 本章小结第79-80页
6 结论与展望第80-82页
    6.1 结论第80-81页
    6.2 展望第81-82页
参考文献第82-86页
附录A第86-88页
附录B第88-90页
附录C第90-98页
附录D第98-100页
附录E第100-106页
附录F第106-108页
附录G第108-110页
附录H第110-112页
作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果第112-116页
学位论文数据集第116页

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