高气压电离室防护剂量仪的研制
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 选题背景与研究意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外辐射剂量测量仪器的发展与现状 | 第11-13页 |
| 1.3 论文研究内容 | 第13页 |
| 1.4 论文章节安排 | 第13-15页 |
| 第二章 高气压电离室防护剂量仪总体设计 | 第15-26页 |
| 2.1 核辐射基础理论简介 | 第15-19页 |
| 2.1.1 射线总类 | 第15页 |
| 2.1.2 γ 射线与物质的相互作用 | 第15-19页 |
| 2.2 探测器的选择 | 第19-21页 |
| 2.2.1 G-M管 | 第19页 |
| 2.2.2 半导体探测器 | 第19-20页 |
| 2.2.3 闪烁体探测器 | 第20-21页 |
| 2.2.4 电离室探测器 | 第21页 |
| 2.3 高气压电离室防护剂量仪总体设计 | 第21-26页 |
| 2.3.1 高气压电离室加工 | 第22页 |
| 2.3.2 硬件总体设计 | 第22-24页 |
| 2.3.3 软件总体设计 | 第24-26页 |
| 第三章 高气压电离室防护剂量仪硬件设计 | 第26-52页 |
| 3.1 高气压电离室的研制 | 第26-27页 |
| 3.2 主控模块 | 第27-31页 |
| 3.2.1 STM32F103系列单片机 | 第28-30页 |
| 3.2.2 STM32相对于51单片机的优点 | 第30页 |
| 3.2.3 STM32单片机最小系统 | 第30-31页 |
| 3.3 电源模块 | 第31-37页 |
| 3.3.1 充电管理系统 | 第32-33页 |
| 3.3.2 电源开关电路 | 第33-34页 |
| 3.3.3 低压电源电路 | 第34-36页 |
| 3.3.4 高压电源电路 | 第36-37页 |
| 3.4 信号采集电路 | 第37-46页 |
| 3.4.1 弱电流测量方法 | 第37-39页 |
| 3.4.2 基于反馈式电流积分型I-F变换原理 | 第39-43页 |
| 3.4.3 电容反馈积分变换法 | 第43-44页 |
| 3.4.4 电容反馈积分AD采样电路 | 第44-45页 |
| 3.4.5 信号滤波电路 | 第45-46页 |
| 3.5 记录显示预警电路 | 第46-49页 |
| 3.5.1 Flash存储电路 | 第46页 |
| 3.5.2 按键电路 | 第46-47页 |
| 3.5.3 报警电路 | 第47-48页 |
| 3.5.4 显示电路 | 第48-49页 |
| 3.6 通讯电路 | 第49-50页 |
| 3.7 印制电路板及电路板屏蔽技术 | 第50-52页 |
| 第四章 高气压电离室防护剂量仪软件设计 | 第52-64页 |
| 4.1 软件开发流程及开发语言 | 第52-53页 |
| 4.1.1 软件开发流程 | 第52页 |
| 4.1.2 软件开发语言和开发环境 | 第52-53页 |
| 4.2 软件设计 | 第53-64页 |
| 4.2.1 单片机的主控程序 | 第53-54页 |
| 4.2.2 信号采集程序设计 | 第54-58页 |
| 4.2.3 OLED接口显示程序 | 第58-59页 |
| 4.2.4 Flash存储程序 | 第59-62页 |
| 4.2.5 通讯程序 | 第62-64页 |
| 第五章 仪器调试及性能测试 | 第64-71页 |
| 5.1 硬件调试 | 第64-66页 |
| 5.2 软件调试 | 第66-67页 |
| 5.3 仪器性能检测 | 第67-71页 |
| 5.3.1 仪器性能测试 | 第67-69页 |
| 5.3.2 高气压电离室防护剂仪性能 | 第69-71页 |
| 第六章 结论及展望 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
