| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 可控核聚变与托卡马克 | 第9-10页 |
| 1.2 等离子体破裂的研究意义 | 第10-13页 |
| 1.3 逃逸电子的研究意义 | 第13-14页 |
| 1.4 本论文的研究意义和内容安排 | 第14-15页 |
| 2 托卡马克中的逃逸电子理论 | 第15-20页 |
| 2.1 高温等离子体中的辐射 | 第15-17页 |
| 2.2 逃逸电子的产生机制 | 第17-20页 |
| 3 硬 X 射线诊断系统 | 第20-28页 |
| 3.1 硬 X 射线诊断系统的构成 | 第20-21页 |
| 3.2 硬 X 射线诊断系统的布局 | 第21-25页 |
| 3.3 硬 X 射线诊断系统的实际操作 | 第25-28页 |
| 4 磁扰动对逃逸电子输运的影响 | 第28-33页 |
| 4.1 等离子体位移实验 | 第28-30页 |
| 4.2 RMP 对逃逸电子输运的影响 | 第30-32页 |
| 4.3 小结 | 第32-33页 |
| 5 等离子体电流猝灭特征研究 | 第33-41页 |
| 5.1 电流猝灭分析方法 | 第34-35页 |
| 5.2 快电流猝灭 | 第35-36页 |
| 5.3 慢电流猝灭 | 第36-37页 |
| 5.4 电流猝灭分析 | 第37-40页 |
| 5.5 小结 | 第40-41页 |
| 6 等离子体主动关断实验的研究 | 第41-50页 |
| 6.1 GP 送气下 J-TEXT 托卡马克上的主动关断实验 | 第42-43页 |
| 6.2 SMBI 送气下 J-TEXT 托卡马克上的主动关断实验 | 第43-49页 |
| 6.3 小结 | 第49-50页 |
| 7 破裂时逃逸电流平台的研究 | 第50-57页 |
| 7.1 逃逸电流的产生阈值 | 第50-53页 |
| 7.2 逃逸电子的抑制 | 第53-56页 |
| 7.3 小结 | 第56-57页 |
| 8 总结和展望 | 第57-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-67页 |
| 附录 1 攻读学位期间发表论文目录 | 第67页 |