| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外发展和研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.1 星载MIMO技术发展和研究现状 | 第13-14页 |
| 1.2.2 抗辐射技术发展和研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 研究切入点分析 | 第15-16页 |
| 1.4 论文研究内容和主要工作 | 第16-17页 |
| 1.5 论文结构安排 | 第17-18页 |
| 第二章 星载MIMO检测算法分析 | 第18-24页 |
| 2.1 引言 | 第18页 |
| 2.2 MIMO信道及系统模型 | 第18-20页 |
| 2.2.1 信道统计模型 | 第18-19页 |
| 2.2.2 系统模型 | 第19-20页 |
| 2.3 MIMO检测算法星载应用的适用性分析 | 第20-22页 |
| 2.3.1 ZF和MMSE迫零向量的理论分析 | 第20-21页 |
| 2.3.2 仿真分析 | 第21-22页 |
| 2.3.3 复杂度和资源占用率分析 | 第22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-24页 |
| 第三章 基于LCTMR星载MIMO检测算法抗SEU方法研究 | 第24-34页 |
| 3.1 引言 | 第24页 |
| 3.2 TMR抗SEU技术 | 第24-25页 |
| 3.3 基于LCTMR的抗SEU设计 | 第25-27页 |
| 3.3.1 模型设计 | 第25-26页 |
| 3.3.2 主要模块设计 | 第26-27页 |
| 3.4 性能分析 | 第27-31页 |
| 3.4.1 误差分析 | 第28-30页 |
| 3.4.2 误比特性能分析 | 第30-31页 |
| 3.5 资源占用率仿真与抗SEU测试 | 第31-33页 |
| 3.5.1 资源占用比较 | 第31-32页 |
| 3.5.2 抗SEU测试 | 第32-33页 |
| 3.6 本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 基于SEC-SED星载MIMO检测算法抗SEU方法研究 | 第34-42页 |
| 4.1 引言 | 第34页 |
| 4.2 SEC-DED扩展汉明码校验原理 | 第34-35页 |
| 4.3 抗单粒子翻转SEC-SED方法 | 第35-38页 |
| 4.3.1 矩阵乘法器SEC-SED设计 | 第36-37页 |
| 4.3.2 单元乘法器SEC-SED设计 | 第37-38页 |
| 4.3.3 检错纠错设计 | 第38页 |
| 4.4 性能比较 | 第38-41页 |
| 4.4.1 资源占用比较 | 第39-40页 |
| 4.4.2 误比特率 | 第40-41页 |
| 4.4.3 抗SEU性能测试 | 第41页 |
| 4.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第五章 星载可重构MIMO检测算法可靠性设计 | 第42-52页 |
| 5.1 引言 | 第42页 |
| 5.2 可靠性标准与可重构技术 | 第42-45页 |
| 5.2.1 可重构研究现状 | 第42-44页 |
| 5.2.2 可靠性理论基础 | 第44-45页 |
| 5.3 可重构与非可重构SEC-SED架构MIMO检测算法可靠性对比 | 第45-49页 |
| 5.3.1 非可重构SEC-SED MIMO检测算法的可靠性模型分析 | 第45-46页 |
| 5.3.2 可重构SEC-SED架构MIMO检测算法的可靠性模型分析 | 第46-49页 |
| 5.3.3 可靠性比较 | 第49页 |
| 5.4 重构模块颗粒度对SEC-SED模型MIMO检测算法可靠性影响 | 第49-50页 |
| 5.5 可重构SEC-SED的迫零检测器设计 | 第50-51页 |
| 5.6 本章小结 | 第51-52页 |
| 第六章 动态重构的FPGA实现及故障注入测试 | 第52-64页 |
| 6.1 模拟测试环境设计 | 第52-56页 |
| 6.1.1 测试单元 | 第52-55页 |
| 6.1.2 计算单元 | 第55-56页 |
| 6.2 可重构SEC-SED迫零检测算法实现 | 第56-58页 |
| 6.3 故障注入测试 | 第58-62页 |
| 6.3.1 传统故障注入测试方法 | 第58-59页 |
| 6.3.2 等比降维故障注入测试法 | 第59-62页 |
| 6.4 本章小结 | 第62-64页 |
| 结束语 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 作者简历 | 第71页 |
