| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 插图索引 | 第11-12页 |
| 附表索引 | 第12-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-30页 |
| 1.1 研究背景 | 第13-14页 |
| 1.2 地下水的基本特征 | 第14-18页 |
| 1.2.1 地下水污染现状 | 第14-17页 |
| 1.2.2 地下水的分类 | 第17页 |
| 1.2.3 地下水含水层系统 | 第17-18页 |
| 1.3 地下水污染的修复技术 | 第18-21页 |
| 1.3.1 原位曝气 | 第19页 |
| 1.3.2 原位生物修复技术 | 第19-20页 |
| 1.3.3 原位化学氧化技术 | 第20页 |
| 1.3.4 抽出-处理技术 | 第20-21页 |
| 1.3.5 自然修复技术 | 第21页 |
| 1.4 PRB技术的简单介绍 | 第21-25页 |
| 1.4.1 PRB的概念 | 第21-22页 |
| 1.4.2 PRB的结构特征 | 第22-23页 |
| 1.4.3 PRB技术优缺点 | 第23页 |
| 1.4.4 PRB的地下水模型 | 第23-24页 |
| 1.4.5 PRB修复的影响因素 | 第24-25页 |
| 1.4.6 PRB的实际案例 | 第25页 |
| 1.5 地下水数值模拟软件 | 第25-28页 |
| 1.5.1 Visual MODFLOW | 第26页 |
| 1.5.2 GMS | 第26页 |
| 1.5.3 FEEFLOW | 第26-27页 |
| 1.5.4 COMSOL Multiphysics | 第27-28页 |
| 1.6 研究目的、意义及研究内容 | 第28-30页 |
| 第2章 研究实例及研究方法 | 第30-47页 |
| 2.1 研究实例概况 | 第30页 |
| 2.2 地下水的流体流动 | 第30-34页 |
| 2.2.1 地下水流体流动的基础理论 | 第30-32页 |
| 2.2.2 COMSOL Multiphysics中流体流动的控制方程 | 第32-33页 |
| 2.2.3 COMSOL Multiphysics中流体流动的初始条件和边界条件 | 第33-34页 |
| 2.3 地下水的溶质运移 | 第34-38页 |
| 2.3.1 地下水溶质运移的基础理论 | 第34页 |
| 2.3.2 COMSOL Multiphysics中溶质运移的控制方程 | 第34-36页 |
| 2.3.3 COMSOL Multiphysics中溶质运移的的初始条件和边界条件 | 第36-38页 |
| 2.4 数值模拟方法模型 | 第38-43页 |
| 2.4.1 数值模拟模型的流程及特性 | 第38-40页 |
| 2.4.2 模型应用的过程 | 第40-43页 |
| 2.5 响应面法的简单介绍 | 第43-47页 |
| 2.5.1 响应面法概述 | 第43-44页 |
| 2.5.2 响应面法的应用 | 第44-45页 |
| 2.5.3 响应面法应用软件Deign-Expert描述 | 第45-47页 |
| 第3章 单因素对污染物去除和水力停留时间的影响 | 第47-53页 |
| 3.1 各单因素对含水层和PRB去除污染物效率的影响 | 第47-49页 |
| 3.1.1 Kp/Ka对含水层和PRB去除率的影响 | 第47-48页 |
| 3.1.2 W对含水层和PRB去除率的影响 | 第48页 |
| 3.1.3 D对含水层和PRB去除率的影响 | 第48-49页 |
| 3.2 各单因素对水力停留时间的影响 | 第49-51页 |
| 3.2.1 Kp/Kp对水力停留时间的影响 | 第49-50页 |
| 3.2.2 W对水力停留时间的影响 | 第50-51页 |
| 3.2.3 D对水力停留时间的影响 | 第51页 |
| 3.3 本章小结 | 第51-53页 |
| 第4章 基于响应面法的各因素对进口浓度、水力停留时间和捕获区域宽度的影响 | 第53-64页 |
| 4.1 基于响应面法各因素对PRB设计的影响 | 第53-61页 |
| 4.1.1 BBD设计及其分析 | 第54-56页 |
| 4.1.2 各因素对污染物进口浓度的影响 | 第56-58页 |
| 4.1.3 各因素对PRB去除污染物效率的影响 | 第58-60页 |
| 4.1.4 各因素对PRB内水力停留时间的影响 | 第60-61页 |
| 4.2 各因素对捕获区域宽度的影响 | 第61-63页 |
| 4.3 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-72页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
