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太赫兹多层介质微带线研究

摘要第9-10页
ABSTRACT第10页
第一章 绪论第11-20页
    1.1 研究背景及研究意义第11-12页
    1.2 太赫兹传输结构的研究现状第12-18页
        1.2.1 金属波导第13-15页
        1.2.2 介质波导第15-16页
        1.2.3 光子晶体传输结构第16-17页
        1.2.4 新型材料传输结构第17-18页
        1.2.5 平面传输线第18页
    1.3 论文主要研究内容及章节安排第18-20页
第二章 传统微带线太赫兹传输特性分析第20-35页
    2.1 概述第20页
    2.2 传统微带线传输理论第20-24页
        2.2.1 模式分析第20-22页
        2.2.2 损耗分析第22-24页
    2.3 太赫兹频段微带线传输损耗分析第24-28页
        2.3.1 损耗变化规律第25-27页
        2.3.2 损耗成分分析第27-28页
    2.4 太赫兹频段微带线损耗成分研究第28-34页
        2.4.1 导体损耗第29-31页
        2.4.2 介质损耗第31-32页
        2.4.3 辐射损耗第32-33页
        2.4.4 损耗成分对比第33-34页
    2.5 本章小结第34-35页
第三章 太赫兹两层介质微带线第35-48页
    3.1 概述第35-36页
    3.2 悬置微带线第36-40页
        3.2.1 损耗随介质厚度变化第37-38页
        3.2.2 损耗随介质介电常数变化第38-39页
        3.2.3 损耗分析第39-40页
    3.3 上层空气的双层介质微带线第40-45页
        3.3.1 损耗随介质厚度变化第43页
        3.3.2 损耗随介质介电常数变化第43页
        3.3.3 损耗分析第43-45页
    3.4 结果与讨论第45-47页
    3.5 本章小结第47-48页
第四章 太赫兹三层介质微带线第48-59页
    4.1 概述第48-50页
    4.2 上层介质参数对损耗的影响第50-53页
        4.2.1 损耗随上层介质厚度变化第50-51页
        4.2.2 损耗随上层介质介电常数变化第51页
        4.2.3 损耗分析第51-53页
    4.3 下层介质参数对损耗的影响第53-56页
        4.3.1 损耗随下层介质厚度变化第53-54页
        4.3.2 损耗随下层介质介电常数变化第54页
        4.3.3 损耗分析第54-56页
    4.4 结果与讨论第56-58页
    4.5 本章小结第58-59页
第五章 不连续性结构研究第59-66页
    5.1 概述第59-60页
    5.2 切角转弯结构第60-62页
    5.3 T型结第62-65页
    5.4 本章小结第65-66页
结束语第66-67页
致谢第67-68页
参考文献第68-74页
作者在学期间取得的学术成果第74页

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