太赫兹多层介质微带线研究
摘要 | 第9-10页 |
ABSTRACT | 第10页 |
第一章 绪论 | 第11-20页 |
1.1 研究背景及研究意义 | 第11-12页 |
1.2 太赫兹传输结构的研究现状 | 第12-18页 |
1.2.1 金属波导 | 第13-15页 |
1.2.2 介质波导 | 第15-16页 |
1.2.3 光子晶体传输结构 | 第16-17页 |
1.2.4 新型材料传输结构 | 第17-18页 |
1.2.5 平面传输线 | 第18页 |
1.3 论文主要研究内容及章节安排 | 第18-20页 |
第二章 传统微带线太赫兹传输特性分析 | 第20-35页 |
2.1 概述 | 第20页 |
2.2 传统微带线传输理论 | 第20-24页 |
2.2.1 模式分析 | 第20-22页 |
2.2.2 损耗分析 | 第22-24页 |
2.3 太赫兹频段微带线传输损耗分析 | 第24-28页 |
2.3.1 损耗变化规律 | 第25-27页 |
2.3.2 损耗成分分析 | 第27-28页 |
2.4 太赫兹频段微带线损耗成分研究 | 第28-34页 |
2.4.1 导体损耗 | 第29-31页 |
2.4.2 介质损耗 | 第31-32页 |
2.4.3 辐射损耗 | 第32-33页 |
2.4.4 损耗成分对比 | 第33-34页 |
2.5 本章小结 | 第34-35页 |
第三章 太赫兹两层介质微带线 | 第35-48页 |
3.1 概述 | 第35-36页 |
3.2 悬置微带线 | 第36-40页 |
3.2.1 损耗随介质厚度变化 | 第37-38页 |
3.2.2 损耗随介质介电常数变化 | 第38-39页 |
3.2.3 损耗分析 | 第39-40页 |
3.3 上层空气的双层介质微带线 | 第40-45页 |
3.3.1 损耗随介质厚度变化 | 第43页 |
3.3.2 损耗随介质介电常数变化 | 第43页 |
3.3.3 损耗分析 | 第43-45页 |
3.4 结果与讨论 | 第45-47页 |
3.5 本章小结 | 第47-48页 |
第四章 太赫兹三层介质微带线 | 第48-59页 |
4.1 概述 | 第48-50页 |
4.2 上层介质参数对损耗的影响 | 第50-53页 |
4.2.1 损耗随上层介质厚度变化 | 第50-51页 |
4.2.2 损耗随上层介质介电常数变化 | 第51页 |
4.2.3 损耗分析 | 第51-53页 |
4.3 下层介质参数对损耗的影响 | 第53-56页 |
4.3.1 损耗随下层介质厚度变化 | 第53-54页 |
4.3.2 损耗随下层介质介电常数变化 | 第54页 |
4.3.3 损耗分析 | 第54-56页 |
4.4 结果与讨论 | 第56-58页 |
4.5 本章小结 | 第58-59页 |
第五章 不连续性结构研究 | 第59-66页 |
5.1 概述 | 第59-60页 |
5.2 切角转弯结构 | 第60-62页 |
5.3 T型结 | 第62-65页 |
5.4 本章小结 | 第65-66页 |
结束语 | 第66-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-74页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第74页 |