| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·研究背景 | 第8-9页 |
| ·研究方法 | 第9页 |
| ·研究内容 | 第9-10页 |
| ·本课题研究的意义 | 第10-11页 |
| 第二章 实验设备及实验方法简介 | 第11-18页 |
| ·主要仪器设备 | 第11-15页 |
| ·电磁铁及其标定 | 第11-12页 |
| ·脉冲磁场及标定 | 第12-14页 |
| ·交变磁场 | 第14-15页 |
| ·测试方法简介 | 第15-18页 |
| ·恒磁场下的测试 | 第15-16页 |
| ·脉冲磁场下的测试 | 第16-17页 |
| ·交变磁场中的测试 | 第17-18页 |
| 第三章 强磁场对典型半导体元器件影响机理研究 | 第18-36页 |
| ·强磁场对二极管工作状态的影响 | 第18-28页 |
| ·恒磁场对二极管的工作状态的影响 | 第18-20页 |
| ·脉冲磁场对二极管工作状态的影响 | 第20-21页 |
| ·交变磁场对二极管工作状态的影响 | 第21-22页 |
| ·磁场对二极管影响机理的分析 | 第22-28页 |
| ·强磁场对三极管工作状态的影响 | 第28-32页 |
| ·强磁场对电容和电阻工作状态的影响 | 第32-36页 |
| 第四章 磁场对典型的电子电路及磁敏器件工作状态的影响的研究 | 第36-47页 |
| ·磁场对典型电子线路工作状态的影响的研究 | 第36-42页 |
| ·NE555多谐振荡电路 | 第36-38页 |
| ·OP07同相比例运算电路 | 第38-40页 |
| ·51单片机系统 | 第40-42页 |
| ·磁场对磁敏器件工作状态的研究 | 第42-47页 |
| ·线性霍尔集成电路 | 第42-44页 |
| ·集成开关型霍尔传感器 | 第44-45页 |
| ·磁敏电阻 | 第45-47页 |
| 第五章 磁敏部组件、元器件、电路针对强磁场的屏蔽 | 第47-58页 |
| ·磁场屏蔽原理 | 第47-50页 |
| ·低频磁场的屏蔽 | 第47-48页 |
| ·高频磁场的屏蔽 | 第48-50页 |
| ·低频磁场屏蔽实验 | 第50-55页 |
| ·脉冲磁场屏蔽实验 | 第55-58页 |
| 第六章 结论 | 第58-60页 |
| ·主要结论 | 第58-59页 |
| ·研究展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 在学期间的研究成果 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |