基于DSP和FPGA工程代码的软防护方法研究
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
符号对照表 | 第10-11页 |
缩略语对照表 | 第11-15页 |
第一章 绪论 | 第15-21页 |
1.1 研究背景 | 第15-17页 |
1.2 研究现状 | 第17-19页 |
1.3 研究内容与创新点 | 第19页 |
1.4 论文结构 | 第19-21页 |
第二章 随机过程基本知识及系统可靠性建模 | 第21-27页 |
2.1 随机过程的基本概念 | 第21-22页 |
2.1.1 随机过程的定义 | 第21页 |
2.1.2 泊松分布与二项分布 | 第21-22页 |
2.2 系统的可靠性建模 | 第22-26页 |
2.2.1 单粒子辐射模型 | 第22-24页 |
2.2.2 系统可靠性建模 | 第24-26页 |
2.3 本章小结 | 第26-27页 |
第三章 常用软防护方法概述 | 第27-37页 |
3.1 三模冗余防护方法 | 第27-29页 |
3.1.1 三模冗余防护的原理 | 第27页 |
3.1.2 防护性能及代价的理论评估 | 第27-29页 |
3.2 刷新防护方法 | 第29-32页 |
3.2.1 刷新防护的原理 | 第29-31页 |
3.2.2 防护性能及代价的理论评估 | 第31-32页 |
3.3 纠错码防护方法 | 第32-35页 |
3.3.1 纠错码介绍 | 第32-33页 |
3.3.2 汉明码防护性能与代价的理论评估 | 第33-35页 |
3.4 本章小结 | 第35-37页 |
第四章 DSP软防护方法研究及工程应用 | 第37-55页 |
4.1 基于关键指令的时间滤波冗余 | 第37-41页 |
4.1.1 时间滤波冗余的设计方法 | 第37-38页 |
4.1.2 时间滤波冗余防护的性能及代价评估 | 第38-41页 |
4.2 基于关键变量的LS-TMR防护方法 | 第41-46页 |
4.2.1 LS-TMR防护方法的原理 | 第41-43页 |
4.2.2 LS-TMR防护方法的性能及代价评估 | 第43-46页 |
4.3 基于关键变量的汉明编码防护 | 第46-50页 |
4.3.1 DSP上汉明码的实现 | 第46-49页 |
4.3.2 汉明码防护的性能与代价评估 | 第49-50页 |
4.4 基于模块划分的冗余防护方法 | 第50-54页 |
4.4.1 模块冗余的原理 | 第50-51页 |
4.4.2 模块冗余防护的性能及代价评估 | 第51-54页 |
4.5 本章小结 | 第54-55页 |
第五章 FPGA软防护方法研究及工程应用 | 第55-71页 |
5.1 FPGA资源辨识 | 第55-56页 |
5.2 基于模块划分的三模冗余防护方法 | 第56-59页 |
5.2.1 模块三模冗余的实现 | 第56页 |
5.2.2 防护后的性能及代价评估 | 第56-59页 |
5.3 时间滤波冗余防护方法 | 第59-63页 |
5.3.1 时间滤波冗余的实现原理 | 第59-60页 |
5.3.2 防护后的性能及代价评估 | 第60-63页 |
5.4 刷新防护方法 | 第63-64页 |
5.5 刷新三模冗余防护方法 | 第64-65页 |
5.6 纠错码防护方法 | 第65-70页 |
5.6.1 FPGA上汉明码的实现 | 第65-67页 |
5.6.2 防护后的性能及代价评估 | 第67-70页 |
5.7 本章小结 | 第70-71页 |
第六章 结论和展望 | 第71-73页 |
6.1 研究结论 | 第71页 |
6.2 研究展望 | 第71-73页 |
参考文献 | 第73-77页 |
致谢 | 第77-79页 |
作者简介 | 第79页 |
1. 基本情况 | 第79页 |
2. 教育背景 | 第79页 |
3. 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第79页 |