中文摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第10-21页 |
1.1 课题研究的背景及意义 | 第10-12页 |
1.2 国内外研究现状分析 | 第12-19页 |
1.2.1 ARM Cortex-M处理器简介 | 第12-13页 |
1.2.2 亚像元边缘检测算法的发展 | 第13-15页 |
1.2.3 国内外非接触线径测量系统的现状 | 第15-19页 |
1.3 本文研究的主要内容 | 第19页 |
1.4 本文的总体结构 | 第19-21页 |
第2章 亚像元边缘检测算法 | 第21-27页 |
2.1 亚像元边缘检测算法 | 第21-25页 |
2.1.1 亚像元边缘检测的原理 | 第21-23页 |
2.1.2 常用亚像元边缘检测算法 | 第23-25页 |
2.2 基于五项式拟合的亚像元边缘检测算法 | 第25-26页 |
2.2.1 差分算子(粗定位) | 第25页 |
2.2.2 五项式拟合(精定位) | 第25-26页 |
2.3 本章小结 | 第26-27页 |
第3章 系统测量方法及总体设计 | 第27-41页 |
3.1 常见的光学线径测量方法 | 第27-32页 |
3.1.1 激光扫描法 | 第27-28页 |
3.1.2 衍射法 | 第28-29页 |
3.1.3 成像法 | 第29-30页 |
3.1.4 向后散射干涉法 | 第30-31页 |
3.1.5 本文所选方法 | 第31-32页 |
3.2 投影法光学系统设计 | 第32-38页 |
3.2.1 线阵CCD器件的选择 | 第32-34页 |
3.2.2 光源的选择 | 第34-35页 |
3.2.3 扩束准直系统 | 第35-37页 |
3.2.4 正交结构平行光投影系统 | 第37-38页 |
3.3 系统总体设计 | 第38-40页 |
3.4 本章小结 | 第40-41页 |
第4章 基于ARM的电子学设计 | 第41-56页 |
4.1 ARM Cortex-M4微处理器的选择 | 第41-44页 |
4.1.1 M453VG6AE关键特性 | 第41-42页 |
4.1.2 M453VG6AE软件开发工具及调试适配器 | 第42-44页 |
4.2 CCD驱动模块 | 第44-50页 |
4.2.1 CCD驱动时序及要求 | 第44-46页 |
4.2.2 CCD驱动方法 | 第46-47页 |
4.2.3 CCD驱动电路、设计流程及结果 | 第47-50页 |
4.3 视频信号采样模块 | 第50-52页 |
4.3.1 M453VG6AE内置 12 Bit ADC简介 | 第50页 |
4.3.2 视频信号采样设计流程图 | 第50-52页 |
4.4 数据通信模块 | 第52-53页 |
4.5 LCD显示模块 | 第53-55页 |
4.6 本章小结 | 第55-56页 |
第5章 实验结果与误差分析 | 第56-65页 |
5.1 实验结果分析 | 第56-60页 |
5.1.1 系统硬件的搭建 | 第56-57页 |
5.1.2 测量结果 | 第57-58页 |
5.1.3 亚像元测量法与阈值电平法的比较 | 第58-60页 |
5.2 系统标定 | 第60-61页 |
5.3 误差分析 | 第61-64页 |
5.4 本章小结 | 第64-65页 |
第6章 总结与展望 | 第65-67页 |
6.1 全文工作总结 | 第65-66页 |
6.2 未来工作展望 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-71页 |
攻读学位期间公开发表的论文 | 第71-72页 |
致谢 | 第72页 |