| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-17页 |
| 第一章 引言 | 第17-30页 |
| ·研究背景 | 第17-18页 |
| ·纳米制造技术的研究现状 | 第18-19页 |
| ·Si(5 5 12)表面结构 | 第19-21页 |
| ·Herring小面化理论 | 第21-23页 |
| ·金属原子吸附在Si表面上的研究 | 第23-30页 |
| 第二章 扫描隧道显微镜(STM)原理及实验方法 | 第30-38页 |
| ·扫描隧道显微镜的原理与应用 | 第30-35页 |
| ·实验条件及方法 | 第35-38页 |
| 第三章 Si(5 5 12)表面上的(1 1 3)和(6 9 17)小面 | 第38-45页 |
| ·Si(1 1 3)表面 | 第40-42页 |
| ·Si(6 9 17)表面 | 第42-45页 |
| 第四章 定量测定高指数硅表面上局域面方向 | 第45-48页 |
| 第五章 定量测定高指数硅表面上小琢面方向 | 第48-55页 |
| 第六章 结论 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附录(攻读硕士学位期间发表论文目录) | 第68-69页 |