摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第1章 绪论 | 第10-17页 |
·课题的研究背景及意义 | 第10-11页 |
·课题研究现状 | 第11-15页 |
·表面缺陷检测的研究现状 | 第11-13页 |
·锂电池电极缺陷检测的研究现状 | 第13-15页 |
·主要研究内容 | 第15-16页 |
·本论文的结构安排 | 第16-17页 |
第2章 基于 TMS320DM648 的硬件检测系统设计 | 第17-32页 |
·引言 | 第17页 |
·机器视觉系统设计流程 | 第17-19页 |
·图像采集模块设计 | 第19-26页 |
·光源的选择 | 第19-21页 |
·工业相机选择与设计 | 第21-25页 |
·镜头的选择 | 第25-26页 |
·图像处理单元设计 | 第26-31页 |
·数字图像处理器选择 | 第26-29页 |
·DSP 外围组件设计 | 第29-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第3章 基于 Blob 分析的锂电池电极表面缺陷检测算法 | 第32-57页 |
·引言 | 第32-33页 |
·灰度值变换 | 第33-36页 |
·直方图均衡化 | 第33-34页 |
·平滑滤波算法介绍 | 第34-35页 |
·改进的中值滤波算法 | 第35-36页 |
·Blob 分析算法 | 第36-47页 |
·Blob 算法准备工作 | 第36-37页 |
·Blob 分析工具 | 第37-40页 |
·边缘检测算法的研究对比与选择 | 第40-44页 |
·改进的 Canny 方法 | 第44-47页 |
·锂电池电极表面缺陷特征提取和识别 | 第47-56页 |
·电极表面缺陷特征分析 | 第47-52页 |
·缺陷特征计算与选择 | 第52-55页 |
·分类器的设计 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第4章 锂电池电极表面缺陷算法的硬件移植 | 第57-67页 |
·基于 DSP 图像处理实验平台硬件构成 | 第57-59页 |
·ICETEK-DM642-BR 评估板 | 第57-58页 |
·图像采集模块 | 第58-59页 |
·图像显示模块 | 第59页 |
·锂电池电极表面缺陷检测算法的可移植性验证 | 第59-64页 |
·CCS 集成开发工具 | 第59-60页 |
·DSP 运行的初始化工作 | 第60-62页 |
·锂电池电极表面缺陷检测算法的验证 | 第62-64页 |
·实验结果及误差分析 | 第64-66页 |
·实验误差分析 | 第65-66页 |
·减小误差分析 | 第66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
结论 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
附录 1 图像采集模块线路图 | 第73-74页 |
附录 2 SDRAM 与 TMS320DM648 连接线路图 | 第74-76页 |
附录 3 FLASH 与 TMS320DM648 连接线路图 | 第76-78页 |
附录 4 1.2 V 和 1.8V 电源产生模块线路图 | 第78-79页 |
附录 5 显示接口线路图 | 第79-81页 |
致谢 | 第81-82页 |
作者简介 | 第82页 |