面板数据模型的检验方法研究
中文摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-9页 |
第一章 绪论 | 第9-21页 |
·论文选题背景与意义 | 第9-13页 |
·背景说明 | 第9-11页 |
·选题意义 | 第11-13页 |
·国内外研究现状 | 第13-18页 |
·国外研究现状 | 第13-17页 |
·国内研究现状 | 第17-18页 |
·论文结构安排与主要创新 | 第18-21页 |
·结构安排 | 第18-19页 |
·主要创新工作 | 第19-21页 |
第二章 面板数据模型的检验与估计 | 第21-38页 |
·面板数据模型的分类 | 第21-24页 |
·面板数据模型的假设检验 | 第24-29页 |
·面板数据模型协方差分析 | 第24-25页 |
·Hausman 设定检验 | 第25-26页 |
·BP 检验 | 第26-27页 |
·冗余的固定效应检验 | 第27页 |
·White 检验 | 第27-28页 |
·拉格朗日乘数检验 | 第28-29页 |
·面板数据模型的估计方法 | 第29-36页 |
·混合最小二乘估计 | 第29-30页 |
·组间最小二乘估计 | 第30页 |
·组内最小二乘估计 | 第30-31页 |
·广义最小二乘估计 | 第31-33页 |
·协方差估计 | 第33-34页 |
·最小二乘虚拟变量估计 | 第34页 |
·一阶差分最小二乘估计 | 第34页 |
·面板分位数回归 | 第34-36页 |
·面板数据极限理论 | 第36-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
第三章 面板异方差和序列相关 | 第38-59页 |
·面板异方差 | 第38-43页 |
·面板异方差的确定性检验 | 第43-48页 |
·固定效应模型 | 第43-44页 |
·随机效应模型 | 第44-46页 |
·实证研究 | 第46-48页 |
·序列自相关 | 第48-52页 |
·Wooldridge 检验 | 第49-50页 |
·PW 转换检验 | 第50-51页 |
·MA(1)型相关检验 | 第51页 |
·MA(1)型与AR(1)型相关检验 | 第51-52页 |
·截面相关 | 第52-57页 |
·截面相关系数检验 | 第53-54页 |
·联合LM 检验 | 第54-55页 |
·共同因子结构检验 | 第55-57页 |
·联合检验 | 第57-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
第四章 面板单位根检验 | 第59-88页 |
·面板单位根检验 | 第59-71页 |
·截面独立的面板单位根检验 | 第59-63页 |
·截面相关的面板单位根检验 | 第63-67页 |
·个体协整的面板单位根检验 | 第67-68页 |
·结构变化的面板单位根检验 | 第68-70页 |
·非线性面板单位根检验 | 第70-71页 |
·结构变化对面板单位根检验的影响 | 第71-76页 |
·均值变化面板数据的Monte Carlo 模拟 | 第72-74页 |
·趋势变化面板数据的Monte Carlo 模拟 | 第74-76页 |
·带结构变化的面板LSTR-IPS 单位根检验 | 第76-85页 |
·LSTR-IPS 单位根检验 | 第76-80页 |
·LSTR-IPS 单位根检验的功效 | 第80-83页 |
·区域经济增长的平稳性检验 | 第83-85页 |
·面板单位根检验的其他问题 | 第85-87页 |
·本章小结 | 第87-88页 |
第五章 面板协整检验 | 第88-125页 |
·面板数据伪回归 | 第88-90页 |
·面板协整检验 | 第90-104页 |
·基于残差的单一协整关系检验 | 第90-94页 |
·多个协整关系的检验 | 第94-96页 |
·截面相关的面板协整检验 | 第96-99页 |
·面板变结构协整检验 | 第99-104页 |
·面板误差修正模型 | 第104页 |
·面板协整模型的估计与推断 | 第104-108页 |
·单一方程估计 | 第105-107页 |
·系统方法估计 | 第107-108页 |
·基于LSTR 的面板变结构协整检验 | 第108-118页 |
·面板LSTR 协整模型 | 第109-110页 |
·检验与估计 | 第110-113页 |
·渐近分布 | 第113-116页 |
·Monte Carlo 模拟研究 | 第116-118页 |
·本章小结 | 第118-125页 |
第六章 总结 | 第125-128页 |
·总结 | 第125-126页 |
·研究展望 | 第126-128页 |
参考文献 | 第128-140页 |
发表论文和科研情况说明 | 第140-141页 |
致谢 | 第141页 |