OTP存储器设计与实现技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-16页 |
| ·课题研究意义及背景 | 第9-11页 |
| ·国内外发展现状 | 第11-14页 |
| ·设计指标 | 第14-15页 |
| ·论文结构 | 第15-16页 |
| 第二章 OTP存储单元设计 | 第16-26页 |
| ·介质击穿机理 | 第16-18页 |
| ·存储单元设计方案 | 第18-25页 |
| ·单元结构 | 第18-19页 |
| ·作模式 | 第19-22页 |
| ·控制管的作用 | 第19-20页 |
| ·连接方式 | 第20页 |
| ·器件类型选择 | 第20-21页 |
| ·阵列的扩展 | 第21-22页 |
| ·测试结果 | 第22-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 OTP存储器外围电路构建 | 第26-59页 |
| ·存储器整体框图 | 第26页 |
| ·地址译码器 | 第26-29页 |
| ·地址检测电路 | 第29-32页 |
| ·电路描述 | 第29-30页 |
| ·检测信号的后续处理 | 第30-32页 |
| ·编程电路 | 第32-41页 |
| ·方波产生电路 | 第32-34页 |
| ·高压复制电路 | 第34-36页 |
| ·地址信号和输入数据的控制 | 第36-40页 |
| ·控制逻辑描述 | 第36-37页 |
| ·仿真结果 | 第37-40页 |
| ·器件选择 | 第40-41页 |
| ·读出电路 | 第41-52页 |
| ·简单的读出机制 | 第41-42页 |
| ·位线电容的影响 | 第42-44页 |
| ·读出结构的改进 | 第44-46页 |
| ·地址信号的控制 | 第46-52页 |
| ·逻辑控制描述 | 第46-48页 |
| ·仿真结果 | 第48-52页 |
| ·输出使能 | 第52-54页 |
| ·控制逻辑描述 | 第52-53页 |
| ·仿真结果 | 第53-54页 |
| ·片选信号 | 第54-57页 |
| ·控制逻辑描述 | 第54-55页 |
| ·仿真结果 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第四章 整体版图设计实现 | 第59-73页 |
| ·版图整体规划 | 第59-63页 |
| ·整体布局 | 第59-61页 |
| ·整体布线 | 第61-62页 |
| ·编程模块的处理 | 第62-63页 |
| ·版图设计中的关键问题 | 第63-68页 |
| ·保护环 | 第63-64页 |
| ·DFM检查 | 第64-66页 |
| ·天线效应 | 第64页 |
| ·冗余金属 | 第64-65页 |
| ·金属SLOT | 第65页 |
| ·通孔数量 | 第65-66页 |
| ·线宽和线间距 | 第66页 |
| ·电路网表中的器件类型 | 第66页 |
| ·特殊器件的处理 | 第66-68页 |
| ·测试点的设置 | 第68-69页 |
| ·选择测试PAD金属层 | 第68-69页 |
| ·隔绝寄生电容 | 第69页 |
| ·预防天线效应 | 第69页 |
| ·后仿真验证 | 第69-71页 |
| ·芯片实测 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 第五章 结论 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 攻硕期间的研究成果 | 第77页 |
