首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--大规模集成电路、超大规模集成电路论文

基于云量子进化算法的SoC测试规划研究

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-11页
   ·课题的研究背景及意义第7-8页
   ·国内外研究现状第8-9页
     ·国外研究现状及发展趋势第8页
     ·国内测试规划的研究现状第8-9页
   ·本文主要研究工作第9-11页
     ·研究的内容第9-10页
     ·论文的结构第10-11页
第二章 SOC 测试的相关理论第11-20页
   ·测试包封 Wrapper第12-16页
     ·IEEE P1500 标准测试包封第13-15页
     ·测试环包封原理第15-16页
   ·测试访问机制TAM第16-17页
   ·测试调度第17-19页
   ·测试功耗第19页
   ·本章小结第19-20页
第三章 功耗约束下SoC 测试调度数学模型第20-25页
   ·SoC 测试调度数学模型第20-21页
   ·功耗约束下的SoC 测试调度数学模型第21-22页
   ·ITC‘02 Test Benchmark 电路分析第22-24页
   ·本章小结第24-25页
第四章 云量子进化算法在SoC 测试调度优化中的应用研究第25-43页
   ·云理论研究第25-27页
     ·云的定义及应用范围第25-26页
     ·云模型发生器第26-27页
   ·量子进化算法的研究第27-31页
     ·量子计算理论第27-28页
     ·量子进化算法第28-31页
   ·量子进化算法的SoC 测试应用研究第31-38页
     ·多进制编码的量子进化算法第31-34页
     ·QEA 在SoC 调度优化问题的应用第34-38页
   ·云量子进化算法研究第38-39页
   ·云量子进化算法的SoC 测试调度优化研究第39-41页
     ·CQEA 的杂交和变异操作第39-40页
     ·CQEA 的测试功耗优化第40-41页
   ·本章小结第41-43页
第五章 基于云量子进化算法的SoC 测试调度优化实现第43-57页
   ·量子进化算法对SoC 测试调度优化实现第43-47页
   ·云量子进化算法对SoC 测试调度优化实现第47-52页
   ·实验仿真参数设计和结果分析第52-56页
     ·算法参数设计第52-53页
     ·实验结果分析第53-56页
   ·本章小结第56-57页
第六章 结束语第57-59页
   ·本文的工作第57-58页
   ·展望第58-59页
参考文献第59-63页
致谢第63-64页
作者在攻读硕士期间的主要研究成果第64页

论文共64页,点击 下载论文
上一篇:加权内建自测试(BIST)设计中的多目标优化技术研究
下一篇:WSN中抵御虫洞攻击的节点安全定位算法研究