| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-22页 |
| ·课题背景及研究意义 | 第12-17页 |
| ·嵌入式存储器的发展趋势 | 第12-13页 |
| ·嵌入式多端口SRAM 的简介 | 第13-15页 |
| ·存储器测试方法的选取 | 第15-17页 |
| ·国内外研究现状及技术难点 | 第17-19页 |
| ·国内外研究概况 | 第17-19页 |
| ·存在的技术难点 | 第19页 |
| ·课题研究工作与论文结构 | 第19-22页 |
| ·课题研究工作 | 第19-20页 |
| ·论文组织结构 | 第20-22页 |
| 第二章 多端口SRAM 的端口间故障测试技术 | 第22-37页 |
| ·故障模型的介绍 | 第22-24页 |
| ·读写端口间的故障测试 | 第24-28页 |
| ·w-r 测试算法 | 第24-25页 |
| ·并行测试端口的地址选取 | 第25-27页 |
| ·w-r 测试算法的简化 | 第27-28页 |
| ·两个写端口间的故障测试 | 第28-30页 |
| ·w-w 测试算法 | 第28-29页 |
| ·不同布局下的故障测试 | 第29-30页 |
| ·内建自测试系统的设计 | 第30-32页 |
| ·BIST 总体框图 | 第30-31页 |
| ·BIST 控制器 | 第31页 |
| ·地址生成器 | 第31-32页 |
| ·测试图形生成器 | 第32页 |
| ·故障比较器 | 第32页 |
| ·端口间故障测试仿真实验 | 第32-35页 |
| ·双端口SRAM 的读写仿真 | 第32-34页 |
| ·测试算法的仿真 | 第34-35页 |
| ·结果与分析 | 第35页 |
| ·本章 小结 | 第35-37页 |
| 第三章 多端口SRAM 的端口间故障诊断实现 | 第37-50页 |
| ·诊断必要性及诊断流程 | 第37-39页 |
| ·诊断的必要性 | 第37-38页 |
| ·诊断的流程 | 第38-39页 |
| ·字线间故障诊断 | 第39-43页 |
| ·字线间故障及其诊断算法 | 第39-40页 |
| ·相邻行间不同端口间的故障诊断 | 第40-41页 |
| ·相邻行间同一端口间的故障诊断 | 第41-42页 |
| ·相同行间的故障诊断 | 第42页 |
| ·n 端口SRAM 的字线间故障诊断算法 | 第42-43页 |
| ·位线间故障诊断 | 第43-46页 |
| ·位线间故障及其诊断算法 | 第43-44页 |
| ·True-True、False-False 类故障的诊断 | 第44-45页 |
| ·True-False、False-True 类故障的诊断 | 第45-46页 |
| ·n 端口SRAM 的位线间故障诊断算法 | 第46页 |
| ·仿真与分析 | 第46-49页 |
| ·故障模型的仿真 | 第46-47页 |
| ·诊断算法的仿真 | 第47-49页 |
| ·本章 小结 | 第49-50页 |
| 第四章 总结与展望 | 第50-52页 |
| ·研究工作总结 | 第50-51页 |
| ·下一步工作建议 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 在学期间发表的学术论文 | 第56页 |