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晶体管热谱学的基础研究

摘要第1-10页
ABSTRACT第10-13页
符号表第13-14页
第一章 绪论第14-23页
   ·前言第14页
   ·标准电学方法的不足第14-16页
   ·热谱分析方法研究的必要性和意义第16-17页
   ·研究背景和现状第17-18页
   ·本章小结第18-20页
 本章参考文献第20-23页
第二章 PN结器件V-I-T本底数据的测量与拟合校验第23-37页
   ·前言第23页
   ·实验方法第23-28页
     ·温度场的建立与温度的测量第23-25页
     ·I-V数据的测量第25-28页
   ·肖克来方程的修正与实验数据的拟合处理第28-34页
     ·肖克来方程的修正第29-32页
     ·实验数据的拟合处理与分析第32-34页
   ·本章小结第34-35页
 本章参考文献第35-37页
第三章 PN结小电流攀峰效应第37-47页
   ·前言第37页
   ·理论分析第37-40页
   ·实验与结果分析第40-44页
     ·温度场的分布与测量第40-41页
     ·小电流攀峰现象第41-44页
   ·本章小结第44-45页
 本章参考文献第45-47页
第四章 基于子管并联模型的热谱分析第47-64页
   ·前言第47页
   ·相关理论与分析第47-53页
     ·热谱分析方法理论基础第47-49页
     ·晶体管等温环模型第49-50页
     ·热谱分析基本算法第50-53页
   ·实验结果与分析第53-61页
     ·母管的I-V特性曲线第54-55页
     ·纯H与H+L实验与结果分析第55-60页
     ·特定温度分布情况下的热谱分析第60-61页
   ·本章小结第61-63页
 本章参考文献第63-64页
第五章 结论第64-66页
 本文取得的研究成果第64-65页
 未来研究工作展望第65-66页
致谢第66-67页
附件第67-68页
学位论文评阅及答辩情况表第68页

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